WinFTM®

WinFTM이 탑재된 노트북

피셔스코프® X-RAY 기기의 수학적 핵심.

X-선 형광 분석을 이용한 코팅 두께 측정 및 재료 분석을 위한 시중에서 가장 강력한 소프트웨어입니다.

완벽하게 구성 가능한
사용자 인터페이스
자동화된
측정 시퀀스
통계적
프로세스 제어

측정 데이터를 효율적으로 관리하고 평가하세요.

입고 검사, 품질 관리 또는 연구실 등 우수한 측정 기술 소프트웨어에 대한 요구 사항은 FISCHERSCOPE® X-RAY 장비의 적용 범위만큼이나 다양합니다. 이러한 모든 요구 사항을 충족하기 위해 WinFTM®은 빠른 측정, 효율적인 평가 및 측정 데이터의 전문적인 문서화에 필요한 기능을 정확하게 제공합니다.

추적 가능한 측정 결과.

간단하고 안내된 캘리브레이션 워크플로우 및 DAkkS 인증서가 포함된 Fischer 교정 표준

표준에 구애받지 않는 정확한 측정.

지속적으로 개발된 기본 파라미터 알고리즘을 기반으로 한 코팅 두께 측정 및 재료 조성 측정

자동화.

반복 측정 시퀀스 프로그래밍 및 자동 실행

편리한 평가.

통계적 프로세스 제어(SPC)를 포함한 광범위한 통계적 평가

직접 데이터 내보내기.

품질 관리 시스템과 같은 다양한 인터페이스로 손쉽게 데이터 내보내기

간편한 데이터 보고서 작성.

클릭 한 번으로 완벽하게 사용자 정의 가능한 보고서 및 개별 측정 프로토콜 생성

기능

이러한 기능 및 기타 여러 기능을 갖춘 WinFTM®은 품질 관리를 위한 가장 포괄적인 XRF 소프트웨어입니다:

  • 자동 패턴 인식

      WinFTM®은 사전 정의된 구조를 자동으로 식별할 수 있는 고급 이미지 인식 및 패턴 인식 기술을 갖추고 있습니다. 이를 통해 여러 테스트 부품을 측정할 때 위치 편차를 보정할 수 있습니다(예: 제조 공정의 부품 검사).

  • 재료 자동 인식(물질 등급)

      지능형 재료 인식 기능 덕분에 구성과 층 두께가 다른 여러 테스트 부품을 사전 정의된 물질 등급으로 분류할 수 있습니다. 그러면 WinFTM®이 각 테스트 부품에 적합한 보정 및 측정 파라미터를 자동으로 로드할 수 있습니다.

  • 자동화된 측정 프로세스

      WinFTM®을 사용하면 반복되는 측정 시퀀스를 프로그래밍하고 자동으로 실행할 수 있습니다. 따라서 복잡한 측정 프로세스도 클릭 한 번 또는 키 입력만으로 쉽고 안정적으로 실행할 수 있습니다. 작업자를 위한 지침을 화면에 명확하게 표시할 수 있어 조작이 더욱 용이합니다.

  • 간편한 추적 가능한 측정

      WinFTM®의 직관적인 캘리브레이션 기능과 광범위한 피셔 캘리브레이션 표준 포트폴리오 덕분에 신뢰할 수 있고 추적 가능한 측정 결과를 얻을 수 있습니다. WinFTM®은 측정 작업당 최대 64개의 교정 표준을 사용하여 표준 기반 교정을 지원합니다.

  • 측정 장비 모니터링

      WinFTM®은 계측기 모니터링을 위한 통합 및 완전 자동화 기능을 지원합니다. 옵션으로 제공되는 측정기 모니터링 키트와 함께 사용 중인 측정기는 정의된 간격으로 스스로를 점검하고 결과를 안정적으로 문서화합니다.

  • 표준 무료 측정

      수년에 걸쳐 더욱 발전하고 최적화된 기본 파라미터 알고리즘 덕분에 교정 표준을 통한 보정 없이도 코팅 두께 측정 및 재료 분석이 가능합니다. 따라서 시간이 절약되고 측정의 유연성이 향상됩니다.

  • 통계적 프로세스 제어(SPC)를 포함한 통계 기능

      WinFTM®은 히스토그램, 확률 네트워크와 같은 광범위한 통계적 평가는 물론 Cp/Cpk 계산을 포함한 SPC 다이어그램을 제공합니다. 이를 통해 측정 데이터를 효과적으로 분석하고 프로세스 변동을 감지할 수 있습니다.

  • 보고서 기능

      저희 소프트웨어를 사용하면 프로토콜 헤더, 측정 데이터, 통계 결과 등을 편집할 수 있는 프로토콜을 쉽게 만들 수 있습니다. 보고서를 인쇄하거나 다양한 형식으로 측정 결과를 내보낼 수 있습니다.

  • 맞춤형 측정 프로토콜

      클릭 몇 번으로 측정 보고서를 받아보세요! 완벽하게 구성 가능한 템플릿 덕분에 측정 결과를 올바른 형식으로 몇 초 만에 내보낼 수 있습니다.

애플리케이션

코팅 두께 측정
재료 분석
정성적 요소 분석
솔루션 분석
  • 최대 24개의 측정 변수를 동시에 측정(측정 변수는 층 두께 또는 원소 농도일 수 있음)
  • 층 두께와 성분을 병렬로 측정할 수 있습니다.
  • 면적 측정 모드
  • 최대 24개 원소 동시 측정
  • 결과를 % 또는 캐럿으로 표시하는 금 분석
  • RoHS 심사를 위한 미량 원소 분석
    • 자동 재료 식별
    • 합격/불합격을 위한 간단한 신호등 표시
  • 알 수 없는 벌크 물질 분석
  • 자동 원소 식별 포함
  • 최대 24개 원소 동시 측정
  • 질량 분획을 용액 농도로 자동 변환
  • 코팅 두께 측정

      • 최대 24개의 측정 변수를 동시에 측정(측정 변수는 층 두께 또는 원소 농도일 수 있음)
      • 층 두께와 성분을 병렬로 측정할 수 있습니다.
      • 면적 측정 모드
  • 재료 분석

      • 최대 24개 원소 동시 측정
      • 결과를 % 또는 캐럿으로 표시하는 금 분석
      • RoHS 심사를 위한 미량 원소 분석
        • 자동 재료 식별
        • 합격/불합격을 위한 간단한 신호등 표시
  • 정성적 요소 분석

      • 알 수 없는 벌크 물질 분석
      • 자동 원소 식별 포함
  • 솔루션 분석

      • 최대 24개 원소 동시 측정
      • 질량 분획을 용액 농도로 자동 변환
애플리케이션 노트
튜토리얼
웹 세미나
브로셔
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Report documentation

피셔 인사이트.

측정 방법.

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