FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL
새로운더욱 빠르고 효율적인 측정을 위해
높은 안정성과 정밀한 측정을 위해
안정적인 시료 고정을 위해
대형 PCB를 위해 특별히 설계되었습니다. 높은 처리량과 정밀한 측정을 동시에 제공합니다.
빠르고 정밀하며 신뢰할 수 있는 측정 – FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL입니다. 검증된 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB를 기반으로 측정 영역을 확장한 고성능 장비로, 대형 PCB도 높은 정확도와 효율성으로 측정할 수 있습니다.
동급 최대 수준의 측정 영역과 자체 개발한 폴리카필러리 광학계, 대면적 실리콘 드리프트 검출기(SDD), 그리고 마이크로포커스 튜브 Ultra를 탑재했습니다. 이를 통해 ENIG, ENEPIG, 침지 은(Immersion Silver), 침지 주석(Immersion Tin)과 같은 표면처리에서 미세 구조와 초박막 코팅까지 빠르고 정밀하게 품질을 관리할 수 있습니다.
기존 측정 시스템으로 대응하기 어려웠던 대형 PCB를 위한 새로운 측정 솔루션을 만나보세요.
한 번의 위치 설정으로 대형 PCB 측정
동급 최대 수준인 610 × 610 mm (24 × 24 in)의 측정 영역으로 대형 PCB도 위치를 변경하지 않고 한 번에 측정할 수 있습니다.
안정적인 시료 고정을 위한 진공 척
얇은 PCB도 평탄하고 안정적으로 고정하여 위치를 다시 조정할 필요 없이 측정할 수 있습니다. (옵션)
더욱 편리한 테이블 이동
풋 스위치를 이용해 양손을 자유롭게 사용할 수 있어 대형 PCB를 더욱 편리하고 안전하게 취급할 수 있습니다.
스마트 팩토리를 위한 유연한 운용
자동화 생산 라인에 원활하게 통합할 수 있으며, 독립형 장비로도 유연하게 운용할 수 있습니다.
정확한 측정 위치를 자동으로 인식
지능형 패턴 인식 기능으로 측정 위치를 자동으로 찾아 측정 시간을 단축하고 작업자의 수동 개입을 최소화합니다.
최고 수준의 측정 정밀도
장기간 안정적이고 정확하며 재현성 높은 측정 결과를 제공합니다.
뛰어난 안정성을 위한 견고한 설계
검증된 설계와 견고한 산업용 부품을 적용하여 장기간 안정적인 성능을 제공합니다.
신뢰할 수 있는 IPC 표준 준수
PCB 표면처리와 관련된 IPC 표준을 충족하여 높은 공정 신뢰성과 일관된 품질 관리를 지원합니다.
주요 기능
초소형 측정 스팟에 최적화된 텅스텐 양극 마이크로포커스 튜브 Ultra를 탑재했으며, 몰리브덴 양극은 옵션으로 제공됩니다.
4종 교체형 필터
시료의 높이는 최대 10 mm까지 가능합니다.
폴리카필러리 광학계는 높은 여기 강도와 초소형 측정 스팟을 구현하여 빠르고 정밀한 측정을 가능하게 합니다.
측정 스팟 직경 약 Ø 10 µm 또는 17 µm (FWHM)
최대 610 x 610 mm 크기의 PCB용 고정밀 프로그래밍 가능 측정 테이블로, 선택 사양으로 진공 척을 장착할 수 있습니다.
박막에서 최고의 정밀도를 제공하는 20 mm² 또는 50 mm² 크기의 실리콘 드리프트 검출기
DPP+: 짧은 측정 시간에도 최고의 정밀도를 보장합니다
무대 팝아웃 기능을 작동시키는 풋 스위치
적용 사례
- 최소 크기의 평면 부품 및 PCB 상의 구조물 측정 (최대 610 x 610 mm (24 x 24 in))
- 3 nm 이하 또는 10 nm 두께의 금/팔라듐 층과 같은 초박막 코팅 분석
- 품질 관리와 같은 자동화된 측정
- 10 μm 폴리카피라리 광학 옵션 사용 시: 대형 실리콘 드리프트 검출기와 결합하여 가장 작은 측정 스팟으로 측정
- 진공 척 옵션 사용 시: 플렉시블 PCB 측정
- IPC 표준 4552 및 4556(ENIG, ENEPIG), 4553A(은), 4554(주석)을 완벽하게 준수
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응용 노트
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