FISCHERSCOPE® XDAL®
새로운
더 빠른 포지셔닝
더 빠른 자동 초점
더 높은 카메라 해상도
¹ FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237과 비교.
² 샘플 표면에 따라 다릅니다.
간편한 조작, 최고의 속도와 정확성.
FISCHERSCOPE® XDAL®은 0.05 μm 미만의 얇은 코팅 및 매우 얇은 코팅 분야의 응용 분야와 ppm 범위의 재료 분석에 이상적입니다. 이 장치 버전에는 최신 세대의 강력한 검출기인 50mm² 실리콘 드리프트 검출기가 장착되어 있습니다. 직관적인 상태 조명과 자동 측정 후드는 최신 FISIQ® X XRF 소프트웨어와 함께 원활한 측정 프로세스를 보장하여 편의성, 안전성 및 최대 처리량을 향상시킵니다.
고속 Z축.
샘플의 빠른 위치 지정
2초 미만의 자동 초점.
더욱 효율적인 측정 프로세스를 위한 측정 대상의 빠른 획득 및 초점 맞추기
고해상도 오버뷰 카메라.
더 선명하고 상세한 이미지로 더 나은 개요를 유지합니다.
다중 구역 LED 조명.
표면에 관계없이 항상 완벽한 조명 제공
자동화된 측정 후드.
유연성 극대화를 위한 수동 또는 자동 작동
최적화된 측정 지오메트리.
X-선 튜브, 시료, 검출기 사이의 간격이 넓어져 탁월한 측정 정확도 제공
직관적인 상태 표시등.
한 눈에 기기 상태 확인
다중 구역 LED 조명을 갖춘 디테일 카메라: 모든 샘플 표면에 대한 최적의 조명(무광, 광택, 반사)을 제공합니다.
원활하고 효율적인 프로세스를 위한 버튼을 누르면 열리고 닫히거나 소프트웨어로 제어할 수 있는 전동식 후드.
X-선 튜브, 샘플, 검출기 사이의 거리가 개선되어 최대 강도를 보장하고 탁월한 측정 정확도를 보장하여 신뢰할 수 있는 고품질의 결과를 얻을 수 있습니다.
LED 라이트 스트립은 장치의 상태를 한 눈에 보여줍니다. 파란색은 대기 모드, 녹색은 측정할 준비가 된 장치, 주황색은 측정이 진행 중임을 나타냅니다.
FISIQ® X: AI 지원 스펙트럼 모드를 갖춘 최신의 최초 XRF 소프트웨어입니다. 간소화되고 효율적인 워크플로우로 생산성을 높일 수 있습니다.
특징
텅스텐 양극이 있는 마이크로포커스 튜브, 요청 시 다른 양극도 제공 가능
대형 시료의 자동 측정을 위한 C-슬롯 하우징
얇은 층에서 최고의 정밀도를 위한 실리콘 드리프트 검출기 20mm² 또는 50mm²
4배로 변경 가능한 조리개 및 6배로 변경 가능한 필터
형식 승인된 전체 보호 장치
더 스마트한 측정 프로세스를 위한 AI 지원 스펙트럼 모드가 포함된 소프트웨어 FISIQ® X
위에서 아래로 측정하는 무계단식 측정 거리
최대 140mm까지 가능한 샘플 높이
자동 측정을 위한 프로그래밍 가능한 측정 테이블
적용 사례
- 0.1μm(0.004밀리미터) 이하의 매우 얇은 코팅 분석
- 리드 프레임, 커넥터 또는 인쇄 회로 기판과 같은 전자 및 반도체 산업에서 기능성 코팅 측정
- 복잡한 멀티 코팅 시스템의 측정
- 품질 관리와 같은 자동화된 측정, 예를 들어
- 솔더의 납 함량 측정
- NiP 코팅의 인 함량 측정
- PCB 마감 측정
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