FISCHERSCOPE® XDAL®
새로운
최적화된 측정 기하 구조로
샘플 위치 지정 구현
FISIQ® X 소프트웨어를 통한 사용자 안내
간편한 조작, 최고의 속도와 정확성.
정밀도가 한계를 뛰어넘을 때, FISCHERSCOPE® XDAL®은 새로운 가능성을 제시합니다. FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®의 혁신적인 후속 모델인 이 제품은 박막 및 초박막 코팅(< 0.05 μm) 분야와 ppm 범위의 재료 분석에 이상적입니다. 강력한 50 mm² 실리콘 드리프트 검출기를 탑재한 XDAL® 650과 20 mm² 실리콘 드리프트 검출기를 탑재한 XDAL® 620 중에서 선택할 수 있습니다. 최첨단 FISIQ® X XRF 소프트웨어와 함께 이 고급 솔루션은 더욱 편리하고 안전하며 최대 처리량을 위한 원활한 측정 프로세스를 보장합니다.
초고속 샘플 위치 지정.
고속 Z축: 6배 더 빠름*
빠른 샘플 캡처.
2초 이내 자동 초점 – 14배 더 빠름*
자동화된 작동.
최대의 유연성을 위한 자동 또는 수동 후드
최적의 샘플 조명 및 이미지 캡처.
10배 향상된* 카메라 해상도와 멀티존 LED 조명
탁월한 고정밀도와 반복 가능한 결과.
최적화된 측정 기하 구조
장치 상태를 항상 확인 가능.
직관적인 180° 상태 표시등
향상된 사용성과 사용자 가이드.
새로운 FISIQ® X 소프트웨어
대형 부품 지원.
C-슬롯으로 대형 부품 측정 가능
다중 구역 LED 조명을 갖춘 디테일 카메라: 모든 샘플 표면에 대한 최적의 조명(무광, 광택, 반사)을 제공합니다.
자동 또는 수동으로 원하는 방식으로 측정할 수 있으며, 최대한의 유연성을 위해 모터식 후드가 지원됩니다.
X-선 튜브, 샘플, 검출기 사이의 거리가 개선되어 최대 강도를 보장하고 탁월한 측정 정확도를 보장하여 신뢰할 수 있는 고품질의 결과를 얻을 수 있습니다.
LED 라이트 스트립은 장치의 상태를 한 눈에 보여줍니다. 파란색은 대기 모드, 녹색은 측정할 준비가 된 장치, 주황색은 측정이 진행 중임을 나타냅니다.
FISIQ® X: AI 지원 스펙트럼 모드를 갖춘 최신의 최초 XRF 소프트웨어입니다. 간소화되고 효율적인 워크플로우로 생산성을 높일 수 있습니다.
특징
텅스텐 양극이 있는 마이크로포커스 튜브, 요청 시 다른 양극도 제공 가능
더 큰 시료를 측정하기 위한 C 슬롯 하우징
얇은 층에서 최고의 정밀도를 위한 실리콘 드리프트 검출기 20mm² 또는 50mm²
4배로 변경 가능한 조리개 및 6배로 변경 가능한 필터
완전히 보호된 수단으로서의 개별 승인
FISIQ® X 소프트웨어는 AI 지원 스펙트럼 모드를 통해 더 스마트한 측정 프로세스를 제공합니다
위에서 아래로 측정하는 무계단식 측정 거리
최대 140mm까지 가능한 샘플 높이
자동 측정을 위한 자동 후드 및 프로그래밍 가능한 측정 테이블
적용 사례
- 0.1μm(0.004밀리미터) 이하의 매우 얇은 코팅 분석
- 리드 프레임, 커넥터 또는 인쇄 회로 기판과 같은 전자 및 반도체 산업에서 기능성 코팅 측정
- 복잡한 다층 시스템의 측정
- 품질 관리와 같은 자동화된 측정, 예를 들어
- 솔더의 납 함량 측정
- NiP 코팅의 인 함량 측정
- PCB 마감 측정
다른 응용 분야가 더 있으신가요? 그렇다면 당사에 문의하세요!
제품 동영상
브로셔
피셔 인사이트
더 많은 제품을 살펴보세요
