FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD
DPP+를 통한 성능
최대 50% ¹ 개선
최대 50% ¹ 개선
60 µm
가장 작은 스팟 크기
가장 작은 스팟 크기
12 mm
최대 측정 거리 - 동급 최고!
최대 측정 거리 - 동급 최고!
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¹ DPP와 비교하여 표준 편차가 크게 개선되어 측정 기능이 향상되거나 측정 시간이 크게 단축되었습니다.
최고의 성능.
최상의 성능을 경험하세요.
복잡한 형상의 소형 시험 부품에 최적화. 뛰어난 측정 거리와 가장 작은 측정 지점, 그리고 마이크로포커스 튜브 울트라를 결합한 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LD는 업계 최고의 XRF 장비입니다.
모든 과제를 해결합니다.
야심찬 측정을 위한 안정적이고 빠른 결과를 제공합니다.
가장 진보된 폴리캐필러리 광학.
자체 제작한 폴리캐필러리 광학은 짧은 측정 시간으로 뛰어난 측정 결과를 제공합니다.
정확하고 정밀합니다.
자동 이미지 인식을 통해 작은 구조물에서도 측정 포인트 위치 지정 가능합니다.
완전 자동화 가능.
단 한 번의 클릭으로 기기가 자동으로 작업을 수행합니다.
DPP+ 디지털 펄스 프로세서.
측정 시간 단축 또는 표준 편차 개선*
* DPP와 비교 시
시중에서 가장 강력한 애플리케이션 소프트웨어인 WinFTM®으로 측정 데이터를 실시간으로 전송, 평가 및 내보낼 수 있습니다.
마이크로포커스 튜브 Ultra를 사용하면 여기 강도가 크게 증가합니다. 따라서 최소한의 측정 지점으로 더욱 향상된 측정 성능을 보장합니다.
접근 정확도 ≤ 2µm의 고정밀, 프로그래밍 가능한 XY 테이블과 가장 정확한 프로브 위치 지정 및 자동 패턴 인식을 위한 C-슬롯이 있는 후드가 있습니다.
고성능 실리콘 드리프트 검출기를 사용하면 0.1µm 미만의 가장 작은 구조와 가장 얇은 층을 비파괴적으로 정밀하게 측정할 수 있습니다.
장거리 폴리카필러리 옵틱을 사용하면 12mm의 고유한 측정 거리에서 조립된 PCB, 커넥터 또는 핀을 가장 작은 측정 지점에서 정확하게 측정할 수 있습니다.
특징
마이크로포커스 튜브 울트라
텅스텐 애노드를 사용하여 가장 작은 지점에서도 뛰어난 성능을 제공합니다. 선택적으로 몰리브덴 애노드도 장착 가능합니다.
변경 가능한 필터
DPP+ 디지털 펄스 프로세서
높은 카운트 레이트 향상 및 측정 시간 대폭 단축
폴리카필러 옵틱스
측정 지점을 짧은 측정 시간으로 고강도로 측정할 수 있습니다.
측정 지점 크기
약 Ø 60 µm
전기도금조에서의 금속 함량 분석
상응하는 액세서리와 함께 금속 함량을 정확히 측정합니다.
전기도금욕에서의 금속 함량 분석
상응하는 액세서리와 함께 금속 함량을 정확히 측정합니다
최대 샘플 높이
135 mm까지 측정 가능합니다.적용 사례
- 조립되고 복잡한 형태의 PCB, 플러그 접점, 본딩 영역, SMD 부품 또는 얇은 와이어와 같은 가장 작은 부품 및 구조물 측정
- 전자 및 반도체 산업의 기능 층 측정
- 복잡한 다층 시스템 측정
- 품질 관리와 같은 자동화된 측정
더 많은 어플리케이션이 있으신가요? 그렇다면 당사에 문의하세요!
애플리케이션 노트
제품 동영상
튜토리얼
웹 세미나
브로셔
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Smaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applications
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