FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ
최대 50% ¹ 개선
자체 생산 및 지속적인 개발²
적합한 폴리카필러리 옵틱³
¹ 표준 편차가 크게 개선되어 측정 능력이 크게 향상되거나 측정 시간이 크게 단축되었습니다.
² 지속적으로 추가 개발되고 있는 폴리캐필러리 광학. 세계에서 유일하게 자체적으로 폴리캐필러를 생산하는 X-선 형광 측정기 제조업체인 Fischer가 만든 고급 폴리캐필러리 광학 장치입니다.
세 가지 고급 폴리캐필러리로 각 용도에 적합한 솔루션을 제공합니다: 10µm 할로 프리, 20µm 할로 프리 또는 20µm 할로.
최고의 요구 사항을 충족하는 미세 측정
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ 기기는 Fischer의 하이엔드 X-선 형광 측정 장비 중 하나로, 미세 구조 측정하는 데 이상적입니다. 이 장비에는 최신 세대의 강력한 실리콘 드리프트 검출기, 마이크로 포커스 튜브 Ultra 및 자체 생산한 폴리캐필러리 광학 장치가 장착되어 있습니다. 높은 방사선 강도로 인해 측정 시간이 획기적으로 단축되고 가장 작은 측정 지점에서도 매우 정밀한 측정이 가능합니다.
모든 과제를 해결합니다.
신뢰성 있는 신속한 결과로 야심찬 측정 작업을 지원합니다.
가장 진보된 폴리캐필러리 광학.
자체 제작한 폴리카필러리 광학은 짧은 측정 시간으로 뛰어난 측정 결과를 제공합니다.
정확하고 정밀합니다.
자동 이미지 인식을 통해 작은 구조물에서도 측정 포인트 위치 지정 가능
완전 자동화 가능.
단 한 번의 클릭으로 기기가 자동으로 작업을 수행합니다.
DPP+ 디지털 펄스 프로세서.
측정 시간 단축 또는 표준 편차 개선*
* DPP와 비교 시
3배 광학 줌과 WinFTM® 소프트웨어를 갖춘 비디오 시스템으로 모든 샘플의 정확한 위치 파악을 보장합니다.
마이크로포커스 튜브 Ultra를 사용하면 여기 강도가 크게 증가합니다. 따라서 최소한의 측정 지점으로 더욱 향상된 측정 성능을 보장합니다.
혁신적인 폴리카필러리 X-레이 광학 덕분에 이 기기는 매우 작은 측정 지점으로 측정하면서도 매우 높은 강도를 유지합니다.
고성능 실리콘 드리프트 검출기를 사용하면 0.1µm 미만의 가장 작은 구조와 가장 얇은 층을 비파괴적으로 정밀하게 측정할 수 있습니다.
특징
마이크로포커스 튜브 울트라
텅스텐 애노드를 사용하여 가장 작은 지점에서도 뛰어난 성능을 제공합니다. 선택적으로 몰리브덴 애노드도 장착 가능합니다.
변경 가능한 필터
DPP+ 디지털 펄스 프로세서
높은 카운트 레이트 향상 및 측정 시간을 대폭 단축합니다
폴리카필러 광학
짧은 측정 시간과 높은 강도로 특히 매우 작은 측정 영역을 지원합니다.
측정 지점 직경
약 Ø 10 또는 20 µm
실리콘 드리프트 검출기
20 또는 50 mm²의 활성 영역으로 최상의 정밀도를 제공합니다.
최대 샘플 높이
135 mm까지 측정 가능합니다.적용 사례
- 트레이스, 접점 또는 리드 프레임과 같은 가장 작고 평평한 부품 및 구조물 측정
- 전자 및 반도체 산업의 기능층 측정
- 복잡한 다층 시스템 측정
- 품질 관리와 같은 자동화된 측정
- 경원소 측정(예: 금 및 팔라듐 아래 무전해 니켈의 인 함량 측정 (ENIG/ENEPIG)
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FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance튜토리얼
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Setting up measurement equipment monitoringSmaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applicationsReport documentation브로셔
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