FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
DPP+를 통한 성능
최대 50% ¹ 개선
최대 50% ¹ 개선
4배
변경 가능한 조리개
변경 가능한 조리개
6배
변경 가능한 필터
변경 가능한 필터
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¹ DPP와 비교하여 표준 편차가 크게 개선되어 측정 기능이 향상되거나 측정 시간이 크게 단축되었습니다.
보편적으로 가장 수요가 많은 X-선 형광 분석.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD는 피셔 포트폴리오에서 가장 강력한 X-선 형광 분석기 중 하나입니다. 이 프리미엄 모델로 측정 성능을 새로운 차원으로 끌어올리세요: 자체 개발한 디지털 펄스 프로세서 DPP+와 함께 사용하면 더 높은 카운트 속도를 처리할 수 있어 측정 시간을 단축하거나 측정 결과의 반복성을 개선할 수 있습니다.
내구성 강화.
특히 높은 요구 사항을 충족하는 견고한 설계
완전 자동화 가능.
단 한 번의 클릭으로 장비가 자동으로 작업 수행
빠른 측정 설계.
몇 단계만으로 샘플을 놓고 측정 준비 완료됩니다. 많은 부품의 자동 측정 가능
신속성.
짧은 측정 시간 덕분에 귀중한 시간을 절약할 수 있습니다.
RoHS 분석.
높은 검출 정확도와 뛰어난 성능으로 오염 물질을 측정합니다.
DPP+ 디지털 펄스 프로세서.
측정 시간 단축 또는 표준 편차 개선*.
* DPP와 비교 시
시중에서 가장 강력한 애플리케이션 소프트웨어인 WinFTM®으로 측정 데이터를 실시간으로 전송, 평가 및 내보낼 수 있습니다.
최대 3mm 조리개: 어려운 시료도 최단 시간 내에 측정할 수 있는 최고 강도입니다.
소형 구조물의 자동 측정을 위한 프로그래밍 가능한 측정 테이블입니다.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD는 피셔 포트폴리오에서 가장 강력한 X선 형광 기기 중 하나입니다.
고해상도 고성능 실리콘 드리프트 감지기를 사용하면 가장 얇은 층도 정밀하고 비파괴적으로 측정할 수 있습니다.
특징
텅스텐 양극이 있는 마이크로포커스 튜브
50mm²의 초대형 유효 면적을 가진 실리콘 드리프트 검출기
해당 액세서리가 있는 전기 도금조의 금속 함량 측정
측정 지점 직경: 약 Ø 0.25 mm
DPP+를 통한 카운트율 향상 및 측정 시간 대폭 단축
형식 승인된 완전 보호 장치
최대 140mm까지 가능한 샘플 높이
4배로 변경 가능한 조리개 및 6배로 변경 가능한 필터
적용 사례
- 전자 및 반도체 산업의 기능성 코팅 측정(예: 2nm까지 금 코팅의 두께 측정)
- 전자 및 반도체 산업에서 0.1μm 이하의 금/팔라듐 층과 같은 얇고 매우 얇은 코팅 분석
- 복잡한 다층 시스템의 측정
- 광전지, 연료 전지 및 배터리 전지 애플리케이션을 위한 코팅 두께 측정
- 전자제품, 포장 및 소비재에 대한 RoHS, WEEE, CPSIA 및 기타 지침에 따른 납 및 카드뮴과 같은 유해 물질의 미량 분석
- 금 및 기타 귀금속과 귀금속 합금의 분석 및 진위 여부 확인
- 기능성 NiP 층의 인 함량 직접 측정
- 전기 도금조의 금속 함량 측정
다른 응용 분야가 있으신가요? 그렇다면 당사에 문의하세요!
애플리케이션 노트
제품 동영상
튜토리얼
웹 세미나
브로셔
AN001 Au/Pd Coatings in the nm Range on Printed Circuit Boards
0.48 MB
AN002 Phosphorous Content in Electroless Nickel Directly Measurable
0.52 MB
AN003 High repeatability precision and trueness of Au/Pd coating measurements on leadframes
0.69 MB
AN004 Determination of harmful substances in very small concentrations – RoHS
0.48 MB
AN006 Determination of platinum, rhodium and palladium in automotive catalytic converters
0.58 MB
AN021 Trace element analysis in materials for fashion jewellery and accessories
0.51 MB
AN073 Analysis of harmful substances in textiles for Oeko-Tex® certification
0.75 MB
AN092 How to choose an XRF instrument
1.29 MB
AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging
0.75 MB
AN097 Prior to hallmarking, for high sample volumes or large test parts: Measure gold content quickly and reliably
0.69 MB
AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background
0.41 MB
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
ZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated baths
Report documentation
애플리케이션 노트
AN001 Au/Pd Coatings in the nm Range on Printed Circuit Boards 0.48 MB AN002 Phosphorous Content in Electroless Nickel Directly Measurable 0.52 MB AN003 High repeatability precision and trueness of Au/Pd coating measurements on leadframes 0.69 MB AN004 Determination of harmful substances in very small concentrations – RoHS 0.48 MB AN006 Determination of platinum, rhodium and palladium in automotive catalytic converters 0.58 MB AN021 Trace element analysis in materials for fashion jewellery and accessories 0.51 MB AN073 Analysis of harmful substances in textiles for Oeko-Tex® certification 0.75 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN097 Prior to hallmarking, for high sample volumes or large test parts: Measure gold content quickly and reliably 0.69 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MB제품 동영상
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