FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®
특허받은 DCM 방법
을 통한 측정 거리 조정
을 통한 측정 거리 조정
형식 승인된
완벽한 보호 장치
완벽한 보호 장치
시장에서
가장 큰
측정 창 을 가진 PC 검출기
측정 창 을 가진 PC 검출기
초보자를 위한 XRF 자동화.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 시리즈의 기기는 품질 보증, 입고 검사 및 생산 모니터링 측정에 적합하도록 설계되었습니다. XULM® 시리즈와 밀접한 관련이 있지만 한 가지 중요한 차이점이 있습니다: 위에서 아래로 측정하는 방향입니다! 따라서 불규칙한 샘플을 편리하게 분석할 수 있을 뿐만 아니라 자동 측정이 가능합니다.
대형 샘플에도 적합.
C-슬롯이 있는 후드
내구성 강화.
대량 생산 부품 측정을 위한 견고한 설계
여러 측정 포인트의 테스트.
대형 샘플에서도 표면 전체에서 측정 포인트 설정이 가능합니다.
설치.
매우 빠르고 간단합니다.
맞춤형 솔루션.
다양한 모델이 애플리케이션에 맞는 최적의 솔루션을 제공합니다.
빠른 측정 설계.
샘플을 놓고 몇 단계만으로 측정 준비 완료됩니다.
X선 형광 분석을 이용한 코팅 두께 측정 및 재료 분석을 위한 시중에서 가장 강력한 소프트웨어인 WinFTM®이 탑재되어 있습니다.
C-슬롯이 있는 후드를 사용하면 크고 평평한 시료도 측정할 수 있습니다.
평면 샘플 지지대부터 프로그래밍 가능한 XY 테이블까지: XDL® 시리즈는 더 이상 바랄 것이 없습니다.
XY 테이블이 있는 모델에서는 위치 지정 보조 장치인 레이저 포인터가 측정할 시료의 빠른 정렬을 지원합니다.
줌과 십자선이 있는 통합 비디오 현미경으로 샘플을 빠르게 정렬하고 측정 지점을 매우 쉽게 정확하게 정의할 수 있습니다.
특징
표준 엑스레이 튜브
조리개: 고정형
기본 필터: 고정형
최대 140mm까지 가능한 샘플 높이
최소 측정 지점 직경: 약 Ø 0.2 mm
해당 액세서리를 사용한 전기 도금조의 금속 함량 측정
형식 승인된 완전 보호 장치
짧은 측정 시간을 위한 비례 카운터 튜브 감지기
적용 사례
- 부식 방지를 위한 철에 아연과 같은 전기 도금 코팅
- 대량 생산 부품의 연속 테스트
- 장식용 크롬 코팅(예: Cr/Ni/Cu/ABS)
- Cr(VI)와 같은 모든 일반적인 크롬 코팅과 Cr(III)와 같은 새로운 크롬 코팅
- Au/Ni/Cu/PCB와 같은 PCB의 기능성 금 코팅 측정
- Au/Ni/Cu 및 Sn/Ni/Cu와 같은 전자 산업의 커넥터 및 접점 코팅
- 전기 도금조의 금속 함량 측정
더 많은 응용 분야가 있으신가요? 그렇다면 당사에 문의하세요!
애플리케이션 노트
제품 동영상
튜토리얼
웹 세미나
브로셔
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards
0.48 MB
AN016 Measurement of Cr/Ni/Cu coatings on plastic substrates
0.21 MB
AN042 Analysis of the metallic content of plating solutions
0.64 MB
AN092 How to choose an XRF instrument
1.29 MB
AN094 XRF analysis with proportional counter tube – These are the advantages
0.36 MB
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230: With DCM: Easy measurement of complex shaped samples
Setting up measurement equipment monitoring
ZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated baths
Report documentation
애플리케이션 노트
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards 0.48 MB AN016 Measurement of Cr/Ni/Cu coatings on plastic substrates 0.21 MB AN042 Analysis of the metallic content of plating solutions 0.64 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN094 XRF analysis with proportional counter tube – These are the advantages 0.36 MB제품 동영상
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230: IntroductionFISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240: Introduction튜토리얼
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