FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB
가장 작은 측정 영역
약. Ø 0.2 µm
약. Ø 0.2 µm
4배
변경 가능한 조리개
3배 변경 가능한 필터
3배 변경 가능한 필터
대형
실리콘 드리프트 감지기
매우 우수한 감지 정확도와 높은 해상도
매우 우수한 감지 정확도와 높은 해상도
전문가를 위한 XRF PCB 테스트.
강력한 실리콘 드리프트 검출기, 다중 조리개 및 변경 가능한 필터의 조합으로 FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB 장비는 PCB의 작은 구조물을 측정하는 데 적합합니다.
PCB 전문가.
인쇄 회로 기판용 전문 측정 솔루션으로, IPC 기준을 충족합니다.
모든 과제를 해결합니다.
까다로운 측정 작업을 위한 안정적이고 빠른 결과 제공
완전 자동화 가능.
기기가 자동으로 작업을 수행합니다.
정확하고 정밀한 측정.
자동 이미지 인식으로 작은 구조물에서 측정 포인트 위치 지정
설치.
매우 빠르고 간편함
특징
텅스텐 양극이 있는 마이크로포커스 튜브
최대 610 × 610mm의 PCB용 고정식 와이드 측정 테이블, 장치에 따라 측정 테이블 확장 1200 x 900mm 또는 자동화된 버전(옵션) 포함
측정 영역 직경: 약 Ø 0.2 mm
4배로 변경 가능한 조리개와 3배로 변경 가능한 필터
최대 10mm까지 가능한 샘플 높이
얇은 층에서 최고의 정밀도를 제공하는 대형 실리콘 드리프트 검출기
적용 사례
- 최대 610 x 610mm(24 x 24인치)의 PCB에서 가장 작은 부품 및 구조물 측정
- 전자 및 반도체 산업의 기능성 코팅 측정
- 0.1 μm 이하의 매우 얇은 코팅 분석
- 솔더의 납 함량 측정
- 복잡한 다층 시스템 측정
- NiP 코팅의 직접 인 측정
- ENIG/ENEPIG 요건 충족
추가 응용 분야가 있으신가요? 그렇다면 당사에 문의하세요!
애플리케이션 노트
튜토리얼
웹 세미나
브로셔
AN050 X-ray instruments for standard PCB applications
0.72 MB
AN072 Simplifying quality control on PCBs with automatic pattern recognition
0.67 MB
AN092 How to choose an XRF instrument
1.29 MB
AN096 Optimized for the PCB industry: Measure ultrathin layers of gold and palladium according to IPC-4552B/IPC-4556A
0.76 MB
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