FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600
DPP+를 통한 성능
최대 50% ¹ 개선
최대 50% ¹ 개선
빠르고 쉬운 프로브 포지셔닝을 위한
수동 조정 가능한 샘플 테이블
수동 조정 가능한 샘플 테이블
특허받은 DCM 방법
을 통한
측정 거리 조정
측정 거리 조정
¹ 자세히 보기
덜 보기
¹ DPP와 비교하여 표준 편차가 현저히 개선되어 측정 성능이 향상되거나 측정 시간이 크게 단축됩니다.
매우 얇은 층을 위한 범용 X-선 형광 분석.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600은 얇은 층, 미량 원소 및 합금의 측정을 위한 Fischer의 범용 XRF 분석기입니다. 하향식 측정으로 샘플을 수동으로 작동하는 전단 테이블 위에 놓기만 하면 됩니다. 레이저 포인터가 위치 지정 보조 역할을 합니다. 따라서 복잡한 형상을 가진 샘플도 정확하고 쉽게 분석할 수 있습니다.
다용도성.
전자 및 반도체 산업에 이상적
RoHS 분석.
신뢰할 수 있는 유해 물질 측정
빠른 측정 설계.
샘플을 놓고 몇 단계만으로 측정 준비 완료됩니다.
가성비.
최적의 비용 대비 효과
DPP+ 디지털 펄스 프로세서.
측정 시간 단축 또는 표준 편차 개선*.
* DPP와 비교 시
시중에서 가장 강력한 애플리케이션 소프트웨어인 WinFTM®으로 측정 데이터를 실시간으로 전송, 평가 및 내보낼 수 있습니다.
장난감의 납 함량 등 소비자 보호를 위한 정확하고 빠른 추적 분석.
강력한 실리콘 드리프트 디텍터와 설정 가능한 조리개 덕분에 다용도로 사용할 수 있으며 더 높은 해상도에 이상적입니다.
다양한 측정을 위한 최고의 유연성: 4가지 조리개와 3가지 필터.
특징
50mm²의 초대형 유효 면적을 가진 실리콘 드리프트 감지기 50mm²
4배로 변경 가능한 조리개와 3배로 변경 가능한 필터
DPP+를 통한 카운트율 향상 및 측정 시간 대폭 단축
텅스텐 양극이 있는 마이크로포커스 튜브
최대 140mm까지 가능한 샘플 높이
측정 지점 약..: Ø 0.15 mm
적용 사례
- 0.1 µm 이하의 얇고 매우 얇은 코팅 분석
- 리드 프레임, 플러그 접점 또는 PCB와 같은 전자 및 반도체 산업의 기능성 코팅 측정
- 복잡한 다층 시스템 측정
- 솔더의 납 함량 측정
- NiP 코팅의 인 함량 측정
다른 응용 분야가 더 있으신가요? 그렇다면 당사에 문의하세요!
애플리케이션 노트
튜토리얼
웹 세미나
브로셔
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Report documentation
애플리케이션 노트
튜토리얼
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®웹 세미나
Setting up measurement equipment monitoringReport documentation브로셔
피셔 인사이트.
더 많은 제품을 살펴보세요.
