FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
특허받은 DCM 방법
을 통한 측정 거리 조정
을 통한 측정 거리 조정
형식 승인된
완벽한 보호 장치
완벽한 보호 장치
완전
자동화 가능
더 높은 수요를 위한 X-선 형광 분석.
더 얇고, 더 얇은 XDAL®: 마이크로 포커스 튜브와 다양한 반도체 검출기 덕분에 FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 시리즈는 0.05 μm 미만의 얇은 코팅 및 매우 얇은 코팅 분야와 ppm 범위의 재료 분석에 이상적입니다. 50mm² 실리콘 드리프트 검출기가 장착된 계측기 버전은 RoHS 측정에도 적합합니다. 유연하고 다양한 구성 옵션(테이블, 조리개, 필터 및 검출기)을 갖춘 범용 XDAL®은 안정적이고 정밀하게 측정하며 100%의 안전성을 보장합니다.
설치.
매우 빠르고 간단합니다.
하나의 장비, 다양한 가능성.
코팅 두께 측정, 재료 및 미량 분석
여러 측정 포인트의 테스트.
샘플가 큰 경우에도 표면 전체에서 측정 포인트 설정 가능
대형 샘플에도 적합.
C-슬롯이 있는 후드
완전 자동화 가능.
단 한 번의 클릭으로 장비가 자동으로 작업 수행
컴팩트한 디자인.
성능과 공간 요구 사항 사이의 매우 좋은 타협점
시중에서 가장 강력한 애플리케이션 소프트웨어인 WinFTM®으로 측정 데이터를 실시간으로 전송, 평가 및 내보낼 수 있습니다.
입고 물품 검사 시 위험 최소화: 프로그래밍 가능한 측정 테이블과 반도체 검출기를 통해 서로 다른 납땜 배치를 제거합니다.
이보다 더 편리할 수는 없습니다: 위에서 측정하고 캘리브레이션을 통해 거리를 계단식으로 측정할 수 있습니다.
특징
텅스텐 양극이 있는 마이크로포커스 튜브
측정 지점 직경: 약 Ø 0.15 mm
매우 우수한 감지 정확도와 높은 해상도를 위한 실리콘 PIN 및 실리콘 드리프트 검출기
3단 변경 가능 필터
형식 승인된 완전 보호 장치
해당 액세서리가 있는 전기 도금조의 금속 함량 측정
4배로 조절 가능한 조리개
최대 140mm까지 가능한 샘플 높이
다양한 측정 테이블 옵션
적용 사례
- 0.05 μm 이하의 얇고 매우 얇은 코팅 분석
- 리드 프레임, 플러그 접점 또는 PCB와 같은 전자 및 반도체 산업의 기능성 코팅 측정
- 복잡한 다층 시스템 측정
- 품질 관리와 같은 자동화된 측정
- 솔더의 납 함량 측정
- SDD 버전(20mm² 또는 50mm²) 사용:
- NiP 층의 인 함량 측정
- ENIG/ENEPIG 요건 충족
추가 응용 분야가 있으신가요? 그렇다면 저희에게 연락하세요!
애플리케이션 노트
제품 동영상
튜토리얼
웹 세미나
브로셔
기술 문서
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards
0.48 MB
AN068 Determination of Pb in solder alloys for high reliability applications
0.67 MB
AN081 Analysing cemented carbide alloys used for making cutting tools
0.50 MB
AN092 How to choose an XRF instrument
1.29 MB
AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging
0.75 MB
AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background
0.41 MB
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Report documentation
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AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards 0.48 MB AN068 Determination of Pb in solder alloys for high reliability applications 0.67 MB AN081 Analysing cemented carbide alloys used for making cutting tools 0.50 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MB제품 동영상
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237: Introduction튜토리얼
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®웹 세미나
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