액세서리

적합한 측정 장치, 개별 액세서리, 최고의 측정 성능.

다양한 제품 포트폴리오에 맞춰 다양한 액세서리를 선택할 수 있습니다. 이를 통해 측정 기기를 항상 안정적으로 측정할 수 있습니다. 교정 표준, 프로브, 스탠드, 홀더 및 포지셔닝 보조 장치, 확대된 접촉면 또는 드래그 체인에 적합한 케이블 등 다양한 액세서리를 사용하면 일상적인 작업을 더욱 쉽게 수행할 수 있습니다. 여러분의 용도에 맞는 액세서리를 찾을 수 있도록 기꺼이 조언해 드리겠습니다.

XRF
촉각
나노 인덴테이션
자동화

XRF 측정기용 액세서리* 선택:

*호환성은 각 측정기에 따라 다릅니다.

  • 갈바닉 배스의 용액 분석을 위한 측정 셀(그림 1)
  • 매우 얇은 구성품과 포일을 지원하기 위한 샘플 스테이지 제로 배경(측정 테이블의 신호를 억제하는 빔 트랩)(그림 2)
  • 테스트 부품의 정확한 위치 지정 및 정렬을 위한 포지셔닝 보조 장치(그림 3)
  • 복잡한 형상을 가진 테스트 부품의 정확한 위치를 위한 범용 바이스(그림 4)
  • 기본 재료와 여러 개의 보정 포일을 서로 위에 고정하는 보정 표준용 홀더(자석식)
  • 귀금속 칩과 같은 시료 전처리용 칩용 프레스 툴
  • 진동의 영향을 줄이기 위한 진동 감쇠 장치
  • 최대 24인치의 대형 PCB 측정을 위한 620mm x 530mm의 지지판.
  • 그리고 훨씬 더
액세서리 엑스레이

촉각 측정 장치용 액세서리*를 선택하세요:

*호환성은 각 측정 장치에 따라 다릅니다.

  • 전동 또는 수동으로 프로브를 내릴 수 있는 측정 스탠드(그림 1)
  • 한 손으로 최적의 기기 취급을 위한 기기 스탠드(그림 2)
  • 기존 피셔 프로브용 DMP F-Sample 어댑터(그림 3)
  • 나사 측정 장치(그림 4)
  • 프로브를 표면에 쉽게 적용하기 위한 시료 홀더
  • 모든 형상의 작은 테스트 피스를 정확하게 배치하기 위한 범용 바이스
  • 보어 및 홈의 측정 지점에 편리하게 도달하기 위한 각도 프로브용 가이드 장치
  • 터치 스크린을 쉽게 조작할 수 있는 터치 펜
  • 부착 링 및 프리즘 어댑터
  • 전해질, 캐뉼라 또는 교정 용액과 같은 소모품
  • 온도 보정을 위한 온도 센서
  • 그리고 훨씬 더
액세서리 촉각

경도 측정 장치용 액세서리* 선택:

*호환성은 각 측정 장치에 따라 다릅니다.

  • 얇은 포일 또는 와이어를 고정하기 위한 포일 클램핑 장치(그림 1)
  • 에폭시 몰딩 후 폴리싱 된 샘플 홀더(그림 2)
  • 범용 샘플 홀더(그림 3)
  • 최대 250°C의 온도에서 기계적 특성 분석을 위한 고온 테이블(그림 4)
  • 외부 소음의 영향을 줄이기 위한 방음 후드
  • 다양한 형상으로 측정할 물체를 클램핑하기 위한 범용 바이스
  • 원자력 현미경(AFM)
  • 그 외 다양한 도구들
액세서리 나노 인덴테이션

자동화 솔루션을 위한 액세서리* 선택:

*호환성은 각 측정 장치에 따라 다릅니다.

  • 측정 제품의 정확한 안내를 위한 솔리드 및 펀칭 테이프용 테이프 가이드(FISCHERSCOPE® X-RAY® 4000 시리즈)(그림 1 및 2)
  • 시료 측정용 장치(그림 3)
  • 갈바닉 조의 용액 분석용 측정 셀(그림 4)
  • 최대 30m의 트레일링 케이블(FISCHERSCOPE® MMS® 자동화)
  • 자동 교정 시퀀스를 위한 교정 고정 장치
  • 펀칭 그리드용 보정 장치(FISCHERSCOPE® X-RAY® 4100)
  • 디스플레이 및 키보드 홀더
  • 설명 후 추가 특별 요구 사항
액세서리 자동화
  • XRF

      XRF 측정기용 액세서리* 선택:

      *호환성은 각 측정기에 따라 다릅니다.

      • 갈바닉 배스의 용액 분석을 위한 측정 셀(그림 1)
      • 매우 얇은 구성품과 포일을 지원하기 위한 샘플 스테이지 제로 배경(측정 테이블의 신호를 억제하는 빔 트랩)(그림 2)
      • 테스트 부품의 정확한 위치 지정 및 정렬을 위한 포지셔닝 보조 장치(그림 3)
      • 복잡한 형상을 가진 테스트 부품의 정확한 위치를 위한 범용 바이스(그림 4)
      • 기본 재료와 여러 개의 보정 포일을 서로 위에 고정하는 보정 표준용 홀더(자석식)
      • 귀금속 칩과 같은 시료 전처리용 칩용 프레스 툴
      • 진동의 영향을 줄이기 위한 진동 감쇠 장치
      • 최대 24인치의 대형 PCB 측정을 위한 620mm x 530mm의 지지판.
      • 그리고 훨씬 더
      액세서리 엑스레이
  • 촉각

      촉각 측정 장치용 액세서리*를 선택하세요:

      *호환성은 각 측정 장치에 따라 다릅니다.

      • 전동 또는 수동으로 프로브를 내릴 수 있는 측정 스탠드(그림 1)
      • 한 손으로 최적의 기기 취급을 위한 기기 스탠드(그림 2)
      • 기존 피셔 프로브용 DMP F-Sample 어댑터(그림 3)
      • 나사 측정 장치(그림 4)
      • 프로브를 표면에 쉽게 적용하기 위한 시료 홀더
      • 모든 형상의 작은 테스트 피스를 정확하게 배치하기 위한 범용 바이스
      • 보어 및 홈의 측정 지점에 편리하게 도달하기 위한 각도 프로브용 가이드 장치
      • 터치 스크린을 쉽게 조작할 수 있는 터치 펜
      • 부착 링 및 프리즘 어댑터
      • 전해질, 캐뉼라 또는 교정 용액과 같은 소모품
      • 온도 보정을 위한 온도 센서
      • 그리고 훨씬 더
      액세서리 촉각
  • 나노 인덴테이션

      경도 측정 장치용 액세서리* 선택:

      *호환성은 각 측정 장치에 따라 다릅니다.

      • 얇은 포일 또는 와이어를 고정하기 위한 포일 클램핑 장치(그림 1)
      • 에폭시 몰딩 후 폴리싱 된 샘플 홀더(그림 2)
      • 범용 샘플 홀더(그림 3)
      • 최대 250°C의 온도에서 기계적 특성 분석을 위한 고온 테이블(그림 4)
      • 외부 소음의 영향을 줄이기 위한 방음 후드
      • 다양한 형상으로 측정할 물체를 클램핑하기 위한 범용 바이스
      • 원자력 현미경(AFM)
      • 그 외 다양한 도구들
      액세서리 나노 인덴테이션
  • 자동화

      자동화 솔루션을 위한 액세서리* 선택:

      *호환성은 각 측정 장치에 따라 다릅니다.

      • 측정 제품의 정확한 안내를 위한 솔리드 및 펀칭 테이프용 테이프 가이드(FISCHERSCOPE® X-RAY® 4000 시리즈)(그림 1 및 2)
      • 시료 측정용 장치(그림 3)
      • 갈바닉 조의 용액 분석용 측정 셀(그림 4)
      • 최대 30m의 트레일링 케이블(FISCHERSCOPE® MMS® 자동화)
      • 자동 교정 시퀀스를 위한 교정 고정 장치
      • 펀칭 그리드용 보정 장치(FISCHERSCOPE® X-RAY® 4100)
      • 디스플레이 및 키보드 홀더
      • 설명 후 추가 특별 요구 사항
      액세서리 자동화