Lesen Sie hier den Beitrag aus der Galvanotechnik (06/2021, S. 751 – 754, Eugen G. Leuze Verlag) über die Eigenschaften von Sn-Schichten auf Cu-Legierungen – und wie man die Schichten optimal misst. Durch XRF Röntgenfluoreszenz-Messung in Kombination mit dem coulometrischen Verfahren können je nach Schichtsystem und Substrat die Schichtdicke und intermetallische Phase (IMP) bestimmt werden. Dank seiner umfassenden Expertise und dem vielfältigen Messgeräte-Portfolio bietet Helmut Fischer die hierfür maßgeschneiderte Messtechnik: das FISCHERSCOPE® X-RAY 4000 für Inline-Messungen in Echtzeit sowie das COULOSCOPE® CMS2.
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지식
Fischer Messtechnik zur Messung von Sn-Schichten auf Cu-Legierungen
Messung von Sn-Schichten auf Cu-Legierungen
