COULOSCOPE® CMS2 and CMS2 STEP
異なる層システムに対する
定義済みの測定タスク
事前設定された測定タスク
事前設定された測定タスク
全層構造 の測定
シンプルな
キャリブレーション作業
に対して
最高度 精度
最高度 精度
品質管理のための電量膜厚測定。
ある一定の膜厚を超えると、蛍光X線による非破壊での膜厚測定は限界に達します。そこで、COULOSCOPE® CMS2の出番です。クーロメトリー法により、ほとんどすべての金属皮膜の膜厚を、電解層剥離によって正確かつ確実に測定できます。この使いやすい卓上型装置は、幅広いコーティングと基板の組み合わせに使用できるため、最大限の柔軟性を提供します。
最適な測定コンセプト
様々なコーティングシステム用に定義された測定タスク
簡単な校正。
最高レベルの精度を実現
個別に拡張可能。
豊富なアクセサリーにより、実用的な作業と安全な保管が可能
直感的な操作。
カラーディスプレイとグラフィカルなユーザーガイダンス
最大限の柔軟性。
あらゆる塗膜、基材、組み合わせの正確な膜厚測定が可能。
COULOSCOPE® CMS2: XRFによる非破壊膜厚測定が、一定の膜厚以上で限界に達した場合。
機能的な測定ステーションは、COULOSCOPE® CMS2またはCMS2 STEPと測定セル付きスタンド（またはSTEP測定セル）で構成されます。
COULOSCOPE® CMS2は、実際に使用されている多くの単層および多層コーティングを正確に測定できます。
クーロメトリック膜厚測定に加え、COULOSCOPE® CMS2 STEPで電気化学電位も測定できます。
特長
測定セルの電圧カーブのグラフィック表示
さまざまなコーティングシステム（鉄の亜鉛メッキや真鍮のニッケルメッキなど）に対応する、ほぼ100の定義済み測定タスク
DIN EN ISO 2177に準拠したコーティングの剥離
USBインターフェースによる簡単なデータ転送
測定範囲コーティングと基材の組み合わせおよび除去速度による 0.02 ～ 50 µm
測定値メモリー：50のアプリケーションで3,000
ASTM B764 - 04およびDIN EN 16866に準拠したSTEP試験測定機能
剥離速度（0.1～50 µm/min）と剥離領域（0.6～3.2 mm Ø）の簡単な選択
測定方法アノードストリッピングによるクーロメトリー
応用例
- ほとんどの基材上のほとんどの金属単層および多層皮膜の膜厚測定
- 電気めっき皮膜の品質管理
- PCB上の残留スズ層厚のモニタリング
- STEPテスト測定：銅、鉄、アルミニウム、プラスチック基板（ABS）上の複数のニッケル層の単層膜厚と電位差の測定
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アプリケーションノート
パンフレット
