FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD
DPP+により最大
50%
のパフォーマンス向上 を実現
60 µm
最小スポットサイズ
最小スポットサイズ
12 mm
クラス最大の測定距離！
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¹ DPPとDPP+を比較した場合、標準偏差が大幅に改善されたため、測定能力が向上した、または測定時間が大幅に短縮された。
最高のパフォーマンス。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LDは、複雑な形状の小型試験部品に最適です。FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ LDは、比類のない測定距離と最小の測定スポット、そして最小の測定スポットで高い性能を発揮するマイクロフォーカス・チューブ・ウルトラにより、業界をリードする蛍光X線分析装置となっています。
あらゆる課題に対応
高度な測定作業に対する信頼性の高い迅速な結果
最も最先端なポリキャピラリーレンズ
自社製造のポリキャピラリーにより、短時間で優れた測定結果
プログラム可能。
高度なパターン認識技術により、あらかじめ定義された構造での自動測定が可能
自動測定
ワンクリックで測定器が自動で動作します
DPP+デジタルパルスプロセッサー
測定時間の短縮または標準偏差*の改善
*DPPとの比較
市場で最も強力なアプリケーションソフトウェアWinFTM®による測定データのリアルタイム伝送、評価、エクスポート。
マイクロフォーカス・チューブ・ウルトラにより、励起光強度が大幅に向上しました。これにより、最小の測定スポットでより優れた測定性能を実現します。
高精度でプログラム可能なXYテーブル（アプローチ精度2 µm以下）、Cスロット付きフードにより、最も正確なプローブ位置決めと自動パターン認識を実現。
高性能シリコン・ドリフト検出器により、最小の構造体や0.1 µm未満の薄層を非破壊で高精度に測定できます。
長距離ポリキャピラリー光学系により、アセンブリされたPCB、コネクター、ピンの最小測定スポットと正確な測定を、独自の測定距離12mmで実現します。
特徴
タングステン陽極を採用したマイクロフォーカスチューブUltraにより、微小スポットでさらに高いパフォーマンスを実現。
交換可能なフィルター
DPP+による計数率の向上と測定時間の大幅短縮
ポリキャピラリー光学系により、特に小さな測定スポットを短時間で高輝度に測定可能
測定スポットØ 60 µm
電気めっき浴中の金属含有量の測定と対応する付属品
シリコン・ドリフト検出器、20mm²または50mm²の有効面積で最高精度を実現
サンプルの高さは最大135mmまで可能
応用例
- 組立済みPCBや複雑な形状のPCB、プラグコンタクト、コネクター、SMD部品や細いワイヤーなど、最小の部品や構造物の測定
- エレクトロニクスおよび半導体産業における機能層の測定
- 複雑な多層システムの測定
- 品質管理などの自動測定
その他のアプリケーションをお持ちですか？ぜひお問い合わせください！
アプリケーションノート
製品ビデオ
チュートリアル
ウェビナー
パンフレット
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Smaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applications
Report documentation
アプリケーションノート
製品ビデオ
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performanceチュートリアル
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®ウェビナー
Setting up measurement equipment monitoringSmaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applicationsReport documentationパンフレット
