FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ
DPP+により最大
50%
のパフォーマンス向上を実現
のパフォーマンス向上を実現
自社製²
ポリキャピラリーレンズ
３種類から
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適切なポリキャピラリーレンズ
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¹ DPPとDPP+を比較した場合、標準偏差が大幅に改善されているため、ゲージ能力が向上、または測定時間が大幅に短縮されています。
常に進化を続けるポリキャピラリーレンズ。世界で唯一、自社でポリカピラリーを製造している蛍光X線測定器メーカーであるフィッシャー社製のハイエンドキャピラリーレンズ。
3種類のハイエンドポリカピラリーがあり、各アプリケーションに最適なソリューションを提供します：10 µmハローフリー、20 µmハローフリー、20 µmハロー。
最も高い要求に応え、最小のµまで対応。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µは、フィッシャーのハイエンド蛍光X線測定装置のひとつで、微小構造の測定に最適です。最新世代の強力なシリコンドリフト検出器、マイクロフォーカスチューブ、自社製ポリキャピラリーレンズを搭載しています。高い放射強度により、測定時間が大幅に短縮され、極小の測定スポットでも高精度の測定が可能です。
あらゆる課題に対応
高度な測定作業に対する信頼性の高い迅速な結果
最も最先端なポリキャピラリーレンズ
自社製造のポリキャピラリーにより、短時間で優れた測定結果。
プログラム可能。
高度なパターン認識技術により、あらかじめ定義された構造での自動測定が可能
自動測定
ワンクリックで測定器が自動で動作します
DPP+デジタルパルスプロセッサー
測定時間の短縮または標準偏差*の改善
*DPPとの比較
３段階の光学ズームとWinFTM®ソフトウェアを備えたビデオシステム - すべてのサンプルの正確な位置決めを保証します。
マイクロフォーカス・チューブ・ウルトラにより、励起光強度が大幅に向上しました。これにより、最小の測定スポットでより優れた測定性能を実現します。
革新的なポリキャピラリーX線光学系のおかげで、この装置は非常に高い強度を維持しながら、非常に小さな測定スポットで測定することができます。
高性能シリコン・ドリフト検出器により、最小の構造体や0.1 µm未満の薄層を非破壊で高精度に測定できます。
特徴
タングステン陽極を採用したマイクロフォーカスチューブUltraにより、微小スポットでさらに高いパフォーマンスを実現
交換可能なフィルター
DPP+による計数率の向上と測定時間の大幅短縮
ポリキャピラリーレンズにより、特に小さな測定スポットを短時間で高輝度に測定可能
測定スポットØ 10または20 µm
シリコン・ドリフト検出器、20mm²または50mm²の有効面積で最高精度を実現
サンプルの高さは最大135mmまで可能
応用例
- トレース、コンタクト、リードフレームなどの極小の平坦な部品や構造の測定
- エレクトロニクスおよび半導体産業における機能層の測定
- 複雑な多層システムの測定
- 品質管理などの自動測定
- 軽元素の測定、例えば金やパラジウム下の無電解ニッケル中のリン含有量の測定(ENIG/ENEPIG)
その他のアプリケーションをお持ちですか？それならご連絡ください！
アプリケーションノート
製品ビデオ
チュートリアル
ウェビナー
パンフレット
AN003 High repeatability precision and trueness of Au/Pd coating measurements on leadframes
0.69 MB
AN008 Thickness and composition of NiP on connectors or small structures on PCBs
0.56 MB
AN032 Material analysis of solder bumps in the Integrated circuit (IC) packaging industry
0.57 MB
AN092 How to choose an XRF instrument
1.29 MB
AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging
0.75 MB
AN098 Optimized for the electronics industry: Measuring ENIG and ENEPIG on a new level
1.46 MB
AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background
0.41 MB
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ: Automated measurements on smallest structures using pattern recognition
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ tutorial part 1: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ tutorial part 2: Test of stability, calibration and normalization
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ tutorial part 3: XY programming
Setting up measurement equipment monitoring
Smaller, faster and more precise: Polycapillary optics for challenging applications
Report documentation
アプリケーションノート
AN003 High repeatability precision and trueness of Au/Pd coating measurements on leadframes 0.69 MB AN008 Thickness and composition of NiP on connectors or small structures on PCBs 0.56 MB AN032 Material analysis of solder bumps in the Integrated circuit (IC) packaging industry 0.57 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN098 Optimized for the electronics industry: Measuring ENIG and ENEPIG on a new level 1.46 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MB製品ビデオ
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performanceチュートリアル
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ: Automated measurements on smallest structures using pattern recognitionFISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ tutorial part 1: IntroductionFISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ tutorial part 2: Test of stability, calibration and normalizationFISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ tutorial part 3: XY programmingウェビナー
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