FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD

製品はモデルや機能に応じて異なる場合があります

 

汎用性の高い高性能なハイエンドモデル。

非常に低い検出限界で、RoHSスクリーニングまでの非常に薄い、または複雑な層の検査に対応する汎用性の高いハイエンドモデル。

DPP+により最大 50% のパフォーマンス向上 を実現
4種類
切替式コリメーター
6種類
切替式一次フィルター
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¹ DPPとDPP+を比較した場合、標準偏差が大幅に改善されたため、測定能力が向上した、または測定時間が大幅に短縮された。

 

最もパワフルな蛍光X線式測定器。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDDは、フィッシャーが誇る最もパワフルな蛍光X線分析装置の一つです。このハイエンドモデルで、測定性能を一段と向上しました:自社開発のデジタルパルスプロセッサーDPP+との組み合わせにより、さらに高いカウントレートで処理できるようになり、測定時間の短縮や測定結果の再現性の向上が可能になりました。

高耐久性

高い要求に満たす堅牢な設計

自動測定

プログラム可能な測定ステージ

簡単な測定手順

わずかな手順でサンプルを配置し、測定準備が完了します。

速い。

測定時間が短いので、貴重な時間を節約できます。

RoHS分析。

高い検出精度と卓越した性能による汚染物質の測定

DPP+デジタルパルスプロセッサー。

測定時間の短縮または標準偏差*の改善

*DPPとの比較

  • 特徴

      タングステン陽極付きマイクロフォーカスチューブ

      シリコンドリフト検出器 50 mm² 有効面積50 mm² と超大型

      電気めっき浴中の金属含有量の測定と対応する付属品

      測定スポットØ 0.25 mm

      DPP+による計数率の向上と測定時間の大幅短縮

      型式認証された完全保護装置

      サンプルの高さは140mmまで可能

      4種類の切替式コリメーター、6種類の切替式一次フィルター

  • 応用例

      • エレクトロニクスおよび半導体産業における機能性コーティングの測定。
      • 0.1μm以下の金/パラジウム層など、エレクトロニクスおよび半導体産業における薄膜および極薄膜コーティングの分析
      • 複雑な多層膜システムの測定
      • 光電池、燃料電池、バッテリーセル用途の膜厚測定
      • RoHS、WEEE、CPSIA、その他電子機器、パッケージング、消費者製品に関する指令に準拠した、鉛やカドミウムなどの有害物質の微量分析
      • 金などの貴金属および貴金属合金の分析および真正性チェック
      • 機能性NiP層中のリン含有量の直接測定
      • 電気めっき浴中の金属含有量の測定

      その他のアプリケーションをお持ちですか?それならご連絡ください!

アプリケーションノート
製品ビデオ
チュートリアル
ウェビナー
パンフレット
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® series: Up to 50% improved performance
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
ZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated baths
Report documentation

フィッシャー・インサイト

測定原理

蛍光X線分析の原理について分かりやすくご紹介します。

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サービス

信頼性の高い測定結果を得るために必要なものはすべて取り揃えています。

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Why Fischer

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