FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®
特許取得済みのDCM方式 による測定距離の調整
ドイツの放射線防護法に準拠した型式認証を得た
防護された機器
防護された機器
市場で
最大
の測定窓 を備えたPC検出器
の測定窓 を備えたPC検出器
初めての自動化に最適な蛍光Ⅹ線分析装置
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® シリーズの装置は、品質保証、受入検査、生産モニタリングの測定に最適です。XULM®シリーズと密接に関連していますが、一つ大きな違いがあります！これは、凹凸のあるサンプルの分析に便利なだけでなく、自動測定が可能であることを意味します。
大きなサンプルにも対応
Cスロット付きのフード
優れた耐久性
量産部品の測定に適した堅牢設計
複数箇所の測定
大きいサイズのサンプルの複数の測定ポイントに対応
使いやすい設計
迅速かつ簡単
テイラーメイド
用途に応じた最適なモデル選択
簡単な測定手順
わずかな手順でサンプルを配置し、測定準備が完了
蛍光X線分析による膜厚測定と材料分析のための市場で最も強力なソフトウェア、WinFTM®を搭載。
また、Cスロットを備えたフードにより、大型で平坦なサンプルの測定も可能です。
フラットなサンプルサポートからプログラム可能なXYテーブルまで：XDL®シリーズに望みはありません。
XYテーブル付きモデルでは、位置決め補助としてレーザーポインターを使用することで、測定するサンプルの素早い位置合わせが可能です。
ズームと十字線を備えた一体型ビデオマイクロスコープにより、サンプルの迅速な位置合わせと測定ポイントの正確な定義が極めて簡単に行えます。
特徴
標準X線管
コリメーター：固定
一次フィルター：固定
サンプルの高さは140mmまで可能
最小測定スポットØ 0.2 mm
電気めっき浴中の金属含有量の測定と対応する付属品
型式認証された完全保護装置
比例計数管検出器を用いた短時間測定
応用例
- 腐食保護としての鉄への亜鉛などの電気めっきコーティング
- 量産部品の連続試験
- 装飾用クロムめっき（Cr/Ni/Cu/ABSなど
- Cr(VI)やCr(III)のような新しいコーティングなど、すべての典型的なクロムコーティング
- Au/Ni/Cu/PCBなどのPCB上の機能性金コーティングの測定
- Au/Ni/CuやSn/Ni/Cuなど、エレクトロニクス産業におけるコネクターやコンタクトのコーティング
- 電気めっき浴の金属含有量の測定
その他のアプリケーションをお持ちですか？それならご連絡ください！
アプリケーションノート
製品ビデオ
チュートリアル
ウェビナー
パンフレット
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards
0.48 MB
AN016 Measurement of Cr/Ni/Cu coatings on plastic substrates
0.21 MB
AN042 Analysis of the metallic content of plating solutions
0.64 MB
AN092 How to choose an XRF instrument
1.29 MB
AN094 XRF analysis with proportional counter tube – These are the advantages
0.36 MB
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230: With DCM: Easy measurement of complex shaped samples
Setting up measurement equipment monitoring
ZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated baths
Report documentation
アプリケーションノート
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards 0.48 MB AN016 Measurement of Cr/Ni/Cu coatings on plastic substrates 0.21 MB AN042 Analysis of the metallic content of plating solutions 0.64 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN094 XRF analysis with proportional counter tube – These are the advantages 0.36 MB製品ビデオ
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230: IntroductionFISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240: Introductionチュートリアル
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230: With DCM: Easy measurement of complex shaped samplesウェビナー
Setting up measurement equipment monitoringZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated bathsReport documentationパンフレット
