FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB ※日本取扱対象外
最小測定スポット
約 Ø 0.2 mm
約 Ø 0.2 mm
4種類
切替可能なコリメーター
3種類 切替可能なフィルター
3種類 切替可能なフィルター
高感度
シリコンドリフト検出器
による
非常に優れた検出精度と高解像度を実現
非常に優れた検出精度と高解像度を実現
XRFによる高度なPCB検査
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB は、高感度シリコンドリフト検出器（SDD）、異なるコリメーターと、切替可能なフィルターの組み合わせにより、プリント基板上の微細構造の測定に最適です。
PCB専用設計
IPC規格に準拠したPCB向けに特別設計
あらゆる課題に対応
難しい測定タスクにも信頼性の高い測定結果
自動測定
プログラム可能な測定ステージ
プログラム可能
高度なパターン認識技術により、あらかじめ定義された構造での自動測定が可能
使いやすい設計
迅速かつ簡単
最も強力なアプリケーションソフトウェアWinFTM®による測定データのリアルタイム伝送、評価、エクスポート。
直感的なPCBシリーズで、フィッシャーはPCBに特化した測定ソリューションを提供します。
小さな構造体、多層膜、機能性コーティング、0.1 μm未満の薄い膜を測定するための汎用装置。
すべてのFISCHERSCOPE® X-RAY装置は長期安定性に優れています。このため、校正の手間が大幅に削減され、時間とコストの節約につながります。
特徴
タングステン陽極付きマイクロフォーカスチューブ
610 × 610 mmまでのPCBに対応した固定式の広い測定ステージ、またはオプションで1200 x 900 mmの拡張測定ステージ
測定スポットØ 0.2 mm
4種類の切替可能なコリメーター、3種類の切替可能なフィルター
サンプルの高さは最大10mmまで可能
高感度シリコンドリフト検出器による薄層での最高精度を実現
応用例
- 最大610 x 610 mm (24 x 24 in)までのPCB上の極小部品や構造を測定
- 電子・半導体産業における機能性コーティングの測定
- 0.1 μm以下の極薄コーティングの分析
- はんだ中の鉛含有量の測定
- 複雑な多層膜システムの測定
- NiPコーティングの直接リン測定
- ENIG/ENEPIG要件に適合
その他のアプリケーションをお持ちですか？それならご連絡ください！
アプリケーションノート
チュートリアルノート
チュートリアル
ウェビナー
パンフレット
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Report documentation
アプリケーションノート
チュートリアルノート
チュートリアル
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®ウェビナー
Setting up measurement equipment monitoringReport documentationパンフレット
