FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB ※日本取扱対象外
最小測定スポット
約 Ø 0.2 µm
約 Ø 0.2 µm
4種類
切替可能なコリメーター
3種類 切替可能なフィルター
3種類 切替可能なフィルター
高感度
シリコンドリフト検出器
による
非常に優れた検出精度と高解像度を実現
非常に優れた検出精度と高解像度を実現
XRFによる高度なPCB検査
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB は、高感度シリコンドリフト検出器(SDD)、異なるコリメーターと、切替可能なフィルターの組み合わせにより、プリント基板上の微細構造の測定に最適です。
PCB専用設計
IPC規格に準拠したPCB向けに特別設計
あらゆる課題に対応
難しい測定タスクにも信頼性の高い測定結果
自動測定
プログラム可能な測定ステージ
プログラム可能
高度なパターン認識技術により、あらかじめ定義された構造での自動測定が可能
使いやすい設計
迅速かつ簡単
特徴
タングステン陽極付きマイクロフォーカスチューブ
610 × 610 mmまでのPCBに対応した固定式の広い測定ステージ、またはオプションで1200 x 900 mmの拡張測定ステージ
測定スポットØ 0.2 mm
4種類の切替可能なコリメーター、3種類の切替可能なフィルター
サンプルの高さは最大10mmまで可能
高感度シリコンドリフト検出器による薄層での最高精度を実現
応用例
- 最大610 x 610 mm (24 x 24 in)までのPCB上の極小部品や構造を測定
- 電子・半導体産業における機能性コーティングの測定
- 0.1 μm以下の極薄コーティングの分析
- はんだ中の鉛含有量の測定
- 複雑な多層膜システムの測定
- NiPコーティングの直接リン測定
- ENIG/ENEPIG要件に適合
その他のアプリケーションをお持ちですか?それならご連絡ください!
AN050 X-ray instruments for standard PCB applications
0.72 MB
AN072 Simplifying quality control on PCBs with automatic pattern recognition
0.67 MB
AN092 How to choose an XRF instrument
1.29 MB
AN096 Optimized for the PCB industry: Measure ultrathin layers of gold and palladium according to IPC-4552B/IPC-4556A
0.76 MB
アプリケーションノート
AN050 X-ray instruments for standard PCB applications 0.72 MB AN072 Simplifying quality control on PCBs with automatic pattern recognition 0.67 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN096 Optimized for the PCB industry: Measure ultrathin layers of gold and palladium according to IPC-4552B/IPC-4556A 0.76 MBチュートリアル
ウェビナー
パンフレット



































































