当社の新製品FISCHERSCOPE® XDAL®とXDV®、および最先端のFISIQ® Xソフトウェアをご確認ください。 詳細はこちら!

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB ※日本取扱対象外

製品はモデルや機能に応じて異なる場合があります

 

ハイエンドの万能な装置

小型構造物、多層膜、機能性コーティング、0.1 µm未満の薄い膜の測定に適した万能な装置。

最小測定スポット
Ø 0.2 µm
4種類 切替可能なコリメーター
3種類 切替可能なフィルター
高感度 シリコンドリフト検出器 による
非常に優れた検出精度と高解像度を実現

XRFによる高度なPCB検査

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB は、高感度シリコンドリフト検出器(SDD)、異なるコリメーターと、切替可能なフィルターの組み合わせにより、プリント基板上の微細構造の測定に最適です。

PCB専用設計

IPC規格に準拠したPCB向けに特別設計

あらゆる課題に対応

難しい測定タスクにも信頼性の高い測定結果

自動測定

プログラム可能な測定ステージ

プログラム可能

高度なパターン認識技術により、あらかじめ定義された構造での自動測定が可能

使いやすい設計

迅速かつ簡単

  • 特徴

      タングステン陽極付きマイクロフォーカスチューブ

      610 × 610 mmまでのPCBに対応した固定式の広い測定ステージ、またはオプションで1200 x 900 mmの拡張測定ステージ

      測定スポットØ 0.2 mm

      4種類の切替可能なコリメーター、3種類の切替可能なフィルター

      サンプルの高さは最大10mmまで可能

      高感度シリコンドリフト検出器による薄層での最高精度を実現

  • 応用例

      • 最大610 x 610 mm (24 x 24 in)までのPCB上の極小部品や構造を測定
      • 電子・半導体産業における機能性コーティングの測定
      • 0.1 μm以下の極薄コーティングの分析
      • はんだ中の鉛含有量の測定
      • 複雑な多層膜システムの測定
      • NiPコーティングの直接リン測定
      • ENIG/ENEPIG要件に適合

      その他のアプリケーションをお持ちですか?それならご連絡ください!

アプリケーションノート
チュートリアル
ウェビナー
パンフレット
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Report documentation

フィッシャー・インサイト

測定原理

蛍光X線分析の原理について分かりやすくご紹介します。

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サービス

信頼性の高い測定結果を得るために必要なものはすべて取り揃えています。

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Why Fischer

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