FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600

製品はモデルや機能に応じて異なる場合があります

 

薄膜、微量元素、合金の測定

極小構造物、非常に薄い多層コーティング、機能性コーティング、0.1 µm以下の非常に薄いコーティングを測定するための万能装置。

現在、日本国内では未発売品です。

DPP+により最大 50% のパフォーマンス向上
を実現
手動で 調整可能なステージ
により、迅速なサンプル位置決め

特許取得済みのDCM方式 による測定距離の調整
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DPPとDPP+を比較した場合、標準偏差が大幅に改善され、測定能力が向上した、または測定時間が大幅に短縮された。

 

非常に薄い層のための蛍光X線分析。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600は、薄層、微量元素、合金の測定に適したフィッシャーの万能蛍光X線分析装置です。トップダウン測定では、試料は手動操作のシャーテーブルの上に置くだけです。レーザーポインターが位置決めの補助となります。このため、複雑な形状の試料でも正確かつ簡単に分析できます。

多用途

電子・半導体産業に最適

RoHS分析

有害物質の確実な測定

簡単な測定手順

わずかな手順でサンプルを配置し、測定準備が完了します。

コストバランス

最適な費用対効果

デジタルパルスプロセッサーDPP+を搭載

測定時間の短縮または標準偏差*の改善

*DPPとの比較

  • 特徴

      シリコンドリフト検出器 有効面積20 mm² と超大型

      4種類の切替切替可能なコリメーター、3種類切替可能なフィルター

      DPP+による計数率の向上と測定時間の大幅短縮

      タングステン陽極付きマイクロフォーカス管

      サンプルの高さは140mmまで可能

      測定スポットØ 0.15 mm

  • 応用例

      • 0.1 µm以下の薄膜および極薄膜コーティングの分析
      • リードフレーム、プラグコンタクト、PCBなどのエレクトロニクスおよび半導体産業における機能性コーティングの測定
      • 複雑な多層システムの測定
      • はんだ中の鉛含有量の測定
      • NiPコーティング中のリン含有量の測定

      その他のアプリケーションをお探しですか?それならご連絡ください!

アプリケーションノート
チュートリアル
ウェビナー
パンフレット
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Report documentation

フィッシャー・インサイト

測定原理

蛍光X線分析の原理について分かりやすくご紹介します。

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サービス

信頼性の高い測定結果を得るために必要なものはすべて取り揃えています。

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Why Fischer

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