FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
特許取得済みのDCM方式 による測定距離の調整
ドイツの放射線防護法に準拠した型式認証を得た
防護された機器
防護された機器
完全に
自動化可能
自動化可能
より高い要求に応える蛍光X線分析。
薄い、薄く、XDAL®：FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® シリーズは、マイクロフォーカスチューブと各種半導体検出器により、0.05 μm以下の薄い膜やppm範囲の素材分析に最適です。50 mm²のシリコンドリフト検出器を搭載した装置は、RoHS測定にも適しています。XDAL®は柔軟性があり、様々な構成オプション（ステージ、コリメーター、フィルター、検出器）により、信頼性が高く、高精度で、100％の安全性を確保した測定が可能です。
使いやすい設計
迅速かつ簡単
ひとつの測定器で様々に対応
膜厚測定、素材分析、トレース分析
複数箇所の測定
大きいサイズのサンプルの複数の測定ポイントに対応
大型サンプルにも対応。
Cスロット付きのフード
自動測定。
ワンクリックで装置にお任せください
コンパクト設計
性能と設置スペースのバランスが取れた製品
市場で最も強力なアプリケーションソフトウェアWinFTM®による測定データのリアルタイム伝送、評価、エクスポート。
受入検査におけるリスクを最小化：プログラム可能な測定ステージと半導体検出器により、異なるはんだバッチを排除します。
これ以上便利なものはない：上下からの測定と工場出荷時の校正による無段階測定距離。
特徴
タングステン陽極付きマイクロフォーカス管
測定スポットØ 0.15 mm
シリコンPINおよびシリコン・ドリフト検出器により、非常に優れた検出精度と高分解能を実現
3種類切替式一時フィルター
型式認証された完全保護装置
電気めっき浴中の金属含有量の測定と対応する付属品
4種類切替式コリメーター
サンプルの高さは140mmまで可能
多様な測定ステージオプション
応用例
- 0.05μm以下の極薄コーティングの分析
- リードフレーム、プラグコンタクト、PCBなどのエレクトロニクスおよび半導体産業における機能性コーティングの測定
- 複雑な多層膜システムの測定
- 品質管理などの自動測定
- はんだ中の鉛含有量の測定
- バージョンSDD (20 mm² または 50 mm²)：
- NiP層中のリン含有量の測定
- ENIG/ENEPIG要件に適合
その他のアプリケーションをお持ちですか？それならご連絡ください！
アプリケーションノート
製品ビデオ
チュートリアル
ウェビナー
パンフレット
技術論文
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards
0.48 MB
AN068 Determination of Pb in solder alloys for high reliability applications
0.67 MB
AN081 Analysing cemented carbide alloys used for making cutting tools
0.50 MB
AN092 How to choose an XRF instrument
1.29 MB
AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging
0.75 MB
AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background
0.41 MB
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
Report documentation
アプリケーションノート
AN001 Au/Pd coatings in the nm range on printed circuit boards 0.48 MB AN068 Determination of Pb in solder alloys for high reliability applications 0.67 MB AN081 Analysing cemented carbide alloys used for making cutting tools 0.50 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MB AN093 XRF analysis for non-destructive coating thickness measurement in the field of cold forging 0.75 MB AN109 Measuring very thin components and foils with the sample stage Zero Background 0.41 MB製品ビデオ
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237: Introductionチュートリアル
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instrumentsFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability testFISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®ウェビナー
Setting up measurement equipment monitoringReport documentationパンフレット
技術論文
