FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500
膜厚測定
と組成分析を 同時に測定
と組成分析を 同時に測定
屋外用 保護等級IP54
高分解能な
シリコンドリフト検出器
シリコンドリフト検出器
蛍光X線式測定器の中でも用途が非常に幅広いモデル。
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500は、最も精密なハンドヘルド型蛍光X線分析装置です。 3点式測定により、再現性のある測定結果が得られます。これにより、機器が常に正しく配置され、測定中に安定した状態が保たれます。高品質のシリコンドリフト検出器(SDD)は、亜鉛-ニッケルなどの多層膜や合金コーティングの分析に必要な精度を保証します。コンパクトな測定装置の特長:膜厚測定と組成分析を同時に測定します。
一石二鳥
ラボ品質での膜厚測定と素材分析を行う、モバイルでユニバーサルな機器
携帯性
持ち運び可能なため室内・室外で測定
安定した測定
3点式測定により、簡単に安定した測定
完全な柔軟性。
測定方向が変えられるので、かさばる物体や小さな部品も測定できます。
長い稼働時間。
バッテリー充電で最長6時間使用可能。
特徴
薄膜で最高の精度を実現するシリコン・ドリフト検出器
3点支持と形状により、試料への安全な設置が可能
測定スポットØ 3 mm
ポータブル測定ボックスがXRF卓上ユニットに変身
保護等級IP54(屋外用
電気メッキ浴中の金属含有量の測定とそれに対応する付属品
1回の充電で最大6時間の動作時間
重量:1.9 kg
応用例
- 膜厚測定と組成分析を同時に測定 (例:Fe上のZnNiの測定)
- 標準板なし測定で未知の合金を分析
- 機械パーツやハウジングなどの大きな部分のメッキ皮膜の測定
- 電気メッキ層の測定
- 液メッキ分析
- 大型品の測定、メジャリングボックスを使用した小型パーツの測定
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