FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®
固定または手動式XYステージ
信頼性の高い有害物質分析
ための ビデオカメラ
あらゆるアプリケーションに最適な蛍光X線 膜厚測定・分析器
X線検出器に半導体検出器(PIN)やシリコンドリフト検出器(SDD)、固定または手動式XYステージ:FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® は多様なアプリケーションに対応し、お客様のニーズに幅広くお応えします。貴金属や金合金の精密な素材分析、膜厚測定、トレース分析が可能です。50mm²シリコンドリフト検出器を搭載したモデルは、RoHS規制のトレース分析に適します。
多用途
店舗、工場、ラボに最適
簡単な測定手順
わずかな手順でサンプルを配置し、測定準備が完了
使いやすい設計
迅速かつ簡単
RoHS分析
信頼性の高い有害物質分析
デジタルパルスプロセッサーDPP+*
同じ標準偏差でさらに短い測定時間**
*FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215は除く
**DPPと比較
特長
タングステン陽極のマイクロフォーカスチューブ
シリコンPINおよびシリコンドリフト検出器は、非常に優れた検出精度と分解能を確保します。
DPP+搭載により、より高いカウントレートと測定時間を短縮
大型フード:計測器により、サンプルの高さは90mmから170mmまで可能
コリメータ:1種類固定または4種類を自動切替*
プライマリーフィルター:1種類固定または6種類を自動切替*
*測定器によるドイツの放射線防護法に準拠した型式認証を得た防護された機器
最小測定スポットØ 0.3 mm
専用アクセサリーにより、電気メッキ浴の金属濃度測定
アプリケーション
- 歯科金属(銀)を非破壊式で分析
- 多層膜コーティング
- 電子産業や半導体産業における厚さ10nmの機能膜分析
- 玩具に鉛が入っていないかのトレース検査
- ジュエリーや精錬所などにおける高精度な金属組成の分析
その他のアプリケーションがありましたら、お問い合わせください。
アプリケーションノート
AN004 Determination of harmful substances in very small concentrations – RoHS 0.48 MB AN024 Analysis of tarnish-resistant silver alloys 0.49 MB AN026 Determination of the silver content of silver plated or blanched silver alloys 0.55 MB AN028 Using X-ray fluorescence for fast, reliable gold analysis in the gold-buying industry 0.51 MB AN029 Precious metal analysis via X-ray fluorescence for assaying offices and precious metals refineries 0.55 MB AN042 Measuring metal content in electroplating baths using XRF and solution measuring cell 0.80 MB AN092 How to choose an XRF instrument 1.29 MBチュートリアルノート
製品動画
チュートリアル
ウェビナー
カタログ





































































