FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®

Lorelei Ipsum Lorelei IpsumLorelei Ipsum Lorelei IpsumLorelei Ipsum Lorelei Ipsum

製品はモデルや機能に応じて異なる場合があります

 

幅広い測定アプリケーションに対応

貴金属分析、単純形状のサンプルの膜厚測定、RoHS規制に対応したトレース分析

サンプルステージのオプション:
固定または手動式XYステージ
RoHS分析:
信頼性の高い有害物質分析
測定位置の 簡単調整の
ための ビデオカメラ

あらゆるアプリケーションに最適な蛍光X線 膜厚測定・分析器

X線検出器に半導体検出器(PIN)やシリコンドリフト検出器(SDD)、固定または手動式XYステージ:FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® は多様なアプリケーションに対応し、お客様のニーズに幅広くお応えします。貴金属や金合金の精密な素材分析、膜厚測定、トレース分析が可能です。50mm²シリコンドリフト検出器を搭載したモデルは、RoHS規制のトレース分析に適します。

多用途

店舗、工場、ラボに最適。

簡単な測定手順

わずかな手順でサンプルを配置し、測定準備が完了。

使いやすい設計

迅速かつ簡単。

RoHS分析

信頼性の高い有害物質分析。

デジタルパルスプロセッサーDPP+*

同じ標準偏差でさらに短い測定時間**。

*FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215は除く
**DPPと比較

  • 特長

      タングステン陽極マイクロフォーカスチューブ

      シリコンPINおよびシリコンドリフト検出器は、非常に優れた検出精度と分解能を確保します。

      DPP+搭載により、より高いカウントレートと測定時間を短縮

      大型フード:計測器により、サンプルの高さは90mmから170mmまで可能

      コリメータ:1種類固定または4種類を自動切替*
      プライマリーフィルター:1種類固定または6種類を自動切替*
      *測定器による

      ドイツの放射線防護法に準拠した型式認証を得た防護された機器

      最小測定スポットØ 0.3 mm

      専用アクセサリーにより、電気メッキ浴の金属濃度測定

  • アプリケーション

      • 歯科金属(銀)を非破壊式で分析
      • 多層膜コーティング
      • 電子産業や半導体産業における厚さ10nmの機能膜分析
      • 玩具に鉛が入っていないかのトレース検査
      • ジュエリーや精錬所などにおける高精度な金属組成の分析

      その他のアプリケーションがありましたら、お問い合わせください。

アプリケーションノート
製品動画
チュートリアル
ウェビナー
カタログ
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 252: Introduction
FISCHERSCOPE® X-RAY: Calibration of X-ray measuring instruments
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial: Stability test
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 1: Export / Import products in WinFTM®
FISCHERSCOPE® X-RAY tutorial part 2: Export / Import products in WinFTM®
Setting up measurement equipment monitoring
ZnNi-Fe coating: Measurement of coating, as well as control of the associated baths
Report documentation

フィッシャー・インサイト

測定原理

蛍光X線分析の原理について分かりやすくご紹介します。

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サービス

信頼性の高い測定結果を得るために必要なものはすべて取り揃えています。

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Why Fischer

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