Helmut Fischer Terascope Messkopf

テラヘルツシステム

有機単層・多層システムの非破壊・非接触膜厚測定、材料分析。

あらゆる基材上の有機および誘電体単層または多層システムを測定し、無害なテラヘルツ波でさまざまな材料特性を分析します。非破壊・非接触のテラヘルツ技術は、自動化されたモジュール式測定システムとして提供され、その強力なソフトウェアが市場をリードする測定性能を実現します。

フィッシャーは様々なシステム・インテグレーターやシステム・メーカーと協力しています。例えば、当社の定評あるパートナーのひとつにITgroupがあります。

日本では発売未定の商品です。

あなたの利点

テラヘルツ技術。

あらゆる基材上の有機単層および多層システムの非破壊・非接触測定

市場をリードする測定性能

最高の精度と再現性を実現する最大6THzの帯域幅*。

独自の高サンプリングレート1.6kHz*。

あらゆる機械的振動に耐性があり、過酷な環境下でも高速かつ高精度な測定結果が得られます。

自動化に最適化

総重量6kgの測定ヘッドで、既存システムや新規システムへの組み込みが容易

固定部品によりメンテナンスが容易

電気光学測定による最大限の稼働時間

幅広い専門知識。

アプリケーションのコンサルティングから試運転、トレーニング、アフターサービスまで、専門家チームによる総合的なノウハウと個別アドバイス。


* 構成による

3-in-1の革新。

テラヘルツ技術と特許取得済みのClean-Trace技術を組み合わせ、レーダーの透過と反射を判定。

パワフルなソフトウェア。

ユーザー指向の直感的なソフトウェアで、膜厚測定と材料分析が可能。

長持ち

24時間365日の工業用使用に耐える堅牢設計。

高い信頼性。

結果のトレーサビリティとカラーティーチングによる実証された再現性。

カスタマイズ。

お客様に最適な測定ソリューションを提供します。

ドイツ製。

フィッシャー生産における最高の品質基準を保証します。

自動参照。

測定システムのレファレンシングを完全自動化し、ノンストップ運転を実現

超高速測定。

測定時間は数秒

特に安全。

無害なテラヘルツ波で測定。