FISCHERSCOPE® X-RAY 5000
DPP+による
50%
パフォーマンス向上
堅牢で低メンテナンス
真空
²
または 空気 で測定
または 空気 で測定
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¹ DPPとDPP+を比較した場合、標準偏差が大幅に改善されたため、ゲージ能力が向上、または測定時間が大幅に短縮されました。
FISCHERSCOPE® X-RAY 5400のみ。
継続的でスマートな品質管理。
FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 シリーズは最大限の稼働時間を実現するように設計されており、特に高度なカスタマイズ性と非接触、非破壊、高精度の優れた測定性能に優れています。このシリーズの装置はモジュラーユニットを構成しており、既存のプラントに純粋なコンポーネントとして簡単に設置することができます。
オーダーメイド。
簡単に統合でき、お客様のアプリケーションに個別に適応
汗をかきません。
水冷による最高250℃の試料温度
DPP+デジタルパルスプロセッサー
測定時間の短縮または標準偏差*の改善
*DPPとの比較
堅牢で信頼性が高い
可動部がない
コンパクト設計
必要な部品がすべて一体となった測定ヘッド
真空対応
真空チャンバーに取り付け可能
頑丈に設計され、高温の表面でも24時間連続使用可能。
強力なシリコンドリフト検出器と設定可能な開口部により、汎用性が高く、薄膜コーティングに最適。
稼働中の生産プロセスにおいて、インラインで正確かつ迅速な測定が可能です。
メンテナンスが簡単 - 真空状態を維持したまま、測定ヘッドのメンテナンスが可能。
市場で最も強力なアプリケーションソフトウェアWinFTM®による測定データのリアルタイム伝送、評価、エクスポート。
特長
タングステン陽極付きマイクロフォーカスチューブ、またはオプションでモリブデン陽極
固定コリメーター（Ø 11 mmまで設定可能）
真空中または大気中の測定用
オプションで最大250 °Cの水冷が可能
シリコンドリフト検出器 50 mm² による最高精度
固定フィルター（設定可能）
ペルチェ冷却
DPP+による計数率の向上と測定時間の大幅短縮
どのような設置位置でも可能
TCP/IPインターフェースによるリモートコントロールとデータエクスポート
応用例
- 燃料電池、ガラスパネル、非常に高温の表面など、大面積の製品や基板上の薄いコーティングや低荷重の測定
- CIGS、CIS、CdTe、CdSなどの太陽電池の層の組成と厚さのモニタリング
- 金属ストリップ、金属箔、プラスチックフィルム上の数µmの薄い層の測定
- スパッタリングや電気メッキ装置のプロセスモニタリング
その他のアプリケーションをお持ちですか？それならご連絡ください！
アプリケーションノート
パンフレット
