新しいFISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XLをご覧ください。 詳細はこちら!

フィジークX

新規
フィジークX

AIテクノロジーを搭載した初の蛍光X線分析ソフトウェア

市場で最も正確でインテリジェントな膜厚測定および材料分析用蛍光X線分析ソフトウェア。

シンプルでモダンな
ユーザーインターフェース
ガイド付きで効率的な
ワークフロー
さまざまな
ユーザーロール

あなたの生産性を高めるために設計されています。

よりスマートに、より高速に、より使いやすく——それが FISIQ® X、市場で最も直感的で最新のXRFソフトウェアです!FISIQ® X により、コーティング厚さの測定は最大6倍*高速に、材料分析は最大13倍*高速になります。これは改良されたアルゴリズムとAI支援のスペクトル解析によるもので、現代のニーズに対応するよう設計されています。FISIQ® X は FISCHERSCOPE® XDAL® および FISCHERSCOPE® XDV® デバイスで利用可能で、品質管理を将来対応型にします!

* WinFTM® 6 と FISIQ® X の計算時間の比較。

最新のユーザーインターフェース

操作の中心となる機能と情報を明確に

スマートなワークフロー

効率的な測定プロセスと簡単な操作

改良されたアルゴリズム・エンジン

最も困難な測定タスクにおいても、優れた安定性、精度、最高の再現性を実現

AIがサポートするスペクトルモード

スペクトルの解析と比較がこれまで以上に便利に

トレーサブルな測定結果

シンプルなガイド付き校正ワークフローとDAkkS証明書付きフィッシャー校正標準器

検量線

校正標準の明確な管理のための標準ライブラリ

ワークフロー - 簡単で効率的。

キャリブレーション
測定
分析
報告

 

  1. 校正を簡単に作成
  2. ライブラリから標準物質を選択
  3. 標準器の測定
  4. 校正成功
校正ワークフロー FISIQ X

 

  1. タスクバーからプログラムを選択
  2. サンプルを置く
  3. 測定プログラムを起動
  4. 結果を簡単にレビュー
ワークフロー測定 FISIQ X

 

  1. サンプルを置く
  2. スペクトルの測定
  3. 瞬時に元素を特定
  4. スペクトルと共に表示される濃度
分析ワークフロー FISIQ X

 

  1. 結果ブロックを選択する
  2. レポート・テンプレートを選択
  3. ワンクリックでエクスポート
  4. PDFを自動生成
レポートワークフロー FISIQ X
  • キャリブレーション

       

      1. 校正を簡単に作成
      2. ライブラリから標準物質を選択
      3. 標準器の測定
      4. 校正成功
      校正ワークフロー FISIQ X
  • 測定

       

      1. タスクバーからプログラムを選択
      2. サンプルを置く
      3. 測定プログラムを起動
      4. 結果を簡単にレビュー
      ワークフロー測定 FISIQ X
  • 分析

       

      1. サンプルを置く
      2. スペクトルの測定
      3. 瞬時に元素を特定
      4. スペクトルと共に表示される濃度
      分析ワークフロー FISIQ X
  • 報告

       

      1. 結果ブロックを選択する
      2. レポート・テンプレートを選択
      3. ワンクリックでエクスポート
      4. PDFを自動生成
      レポートワークフロー FISIQ X
製品ビデオ
パンフレット
FISIQ® X Software

フィッシャー・インサイト

測定原理

蛍光X線分析の原理について分かりやすくご紹介します。

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サービス

信頼性の高い測定結果を得るために必要なものはすべて取り揃えています。

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