当社の新製品FISCHERSCOPE® XDAL®とXDV®、および最先端のFISIQ® Xソフトウェアをご確認ください。 詳細はこちら!

フィジークX

新規
フィジークX

AIテクノロジーを搭載した初の蛍光X線分析ソフトウェア。

市場で最も正確でインテリジェントな膜厚測定および材料分析用蛍光X線分析ソフトウェア。

膜厚測定:最大
6倍速 ¹
材料分析:最大
13倍速 ²
ワークフロー・ベース
ユーザーインターフェース
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Au/Pd/Ni/CuFe コーティングシステムの測定。WinFTM® 6とFISIQ® Xの計算時間の比較。
² 9種類の元素を含む金合金層の材料分析。WinFTM® 6とFISIQ® Xの計算時間の比較。

シンプルで効率的なワークフローで生産性を向上。

FISIQ®Xは、最も直感的で最新の蛍光X線分析ソフトウェアです。ユーザーに適応したメニューにより、このソフトウェアはユーザーの手を取り、ワークフローに基づいた測定プロセスをガイドします。改良されたアルゴリズムにより、卓越した安定性、精度、最大限の再現性を実現し、測定時間を大幅に短縮します。FISIQ®Xは現在、FISCHERSCOPE®XDAL®とFISCHERSCOPE®XDV®でご利用いただけます。

最新のユーザーインターフェース。

操作の中心となる機能と情報を明確に

スマートなワークフロー。

効率的な測定プロセスと簡単な操作

改良されたアルゴリズム・エンジン。

最も困難な測定タスクにおいても、優れた安定性、精度、最高の再現性を実現。

AIがサポートするスペクトルモード。

スペクトルの解析と比較がこれまで以上に便利に。

トレーサブルな測定結果。

シンプルなガイド付き校正ワークフローとDAkkS証明書付きフィッシャー校正標準器。

検量線。

校正標準の明確な管理のための標準ライブラリ

ワークフロー - 簡単で効率的。

キャリブレーション
測定
分析
報告

 

  1. 校正を簡単に作成
  2. ライブラリから標準物質を選択
  3. 標準器の測定
  4. 校正成功
校正ワークフロー FISIQ X

 

  1. タスクバーからプログラムを選択
  2. サンプルを置く
  3. 測定プログラムを起動
  4. 結果を簡単にレビュー
ワークフロー測定 FISIQ X

 

  1. サンプルを置く
  2. スペクトルの測定
  3. 瞬時に元素を特定
  4. スペクトルと共に表示される濃度
分析ワークフロー FISIQ X

 

  1. 結果ブロックを選択する
  2. レポート・テンプレートを選択
  3. ワンクリックでエクスポート
  4. PDFを自動生成
レポートワークフロー FISIQ X
  • キャリブレーション

       

      1. 校正を簡単に作成
      2. ライブラリから標準物質を選択
      3. 標準器の測定
      4. 校正成功
      校正ワークフロー FISIQ X
  • 測定

       

      1. タスクバーからプログラムを選択
      2. サンプルを置く
      3. 測定プログラムを起動
      4. 結果を簡単にレビュー
      ワークフロー測定 FISIQ X
  • 分析

       

      1. サンプルを置く
      2. スペクトルの測定
      3. 瞬時に元素を特定
      4. スペクトルと共に表示される濃度
      分析ワークフロー FISIQ X
  • 報告

       

      1. 結果ブロックを選択する
      2. レポート・テンプレートを選択
      3. ワンクリックでエクスポート
      4. PDFを自動生成
      レポートワークフロー FISIQ X
製品ビデオ
パンフレット
FISIQ® X Software

フィッシャー・インサイト

測定原理

蛍光X線分析の原理について分かりやすくご紹介します。

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サービス

信頼性の高い測定結果を得るために必要なものはすべて取り揃えています。

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Why Fischer

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