フィジークX
新規
膜厚測定:最大
6倍速 ¹
6倍速 ¹
材料分析:最大
13倍速 ²
13倍速 ²
ワークフロー・ベース
ユーザーインターフェース
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Au/Pd/Ni/CuFe コーティングシステムの測定。WinFTM® 6とFISIQ® Xの計算時間の比較。
² 9種類の元素を含む金合金層の材料分析。WinFTM® 6とFISIQ® Xの計算時間の比較。
シンプルで効率的なワークフローで生産性を向上。
FISIQ®Xは、最も直感的で最新の蛍光X線分析ソフトウェアです。ユーザーに適応したメニューにより、このソフトウェアはユーザーの手を取り、ワークフローに基づいた測定プロセスをガイドします。改良されたアルゴリズムにより、卓越した安定性、精度、最大限の再現性を実現し、測定時間を大幅に短縮します。FISIQ®Xは現在、FISCHERSCOPE®XDAL®とFISCHERSCOPE®XDV®でご利用いただけます。
最新のユーザーインターフェース。
操作の中心となる機能と情報を明確に
スマートなワークフロー。
効率的な測定プロセスと簡単な操作
改良されたアルゴリズム・エンジン。
最も困難な測定タスクにおいても、優れた安定性、精度、最高の再現性を実現。
AIがサポートするスペクトルモード。
スペクトルの解析と比較がこれまで以上に便利に。
トレーサブルな測定結果。
シンプルなガイド付き校正ワークフローとDAkkS証明書付きフィッシャー校正標準器。
検量線。
校正標準の明確な管理のための標準ライブラリ
ワークフロー - 簡単で効率的。
- 校正を簡単に作成
- ライブラリから標準物質を選択
- 標準器の測定
- 校正成功

- タスクバーからプログラムを選択
- サンプルを置く
- 測定プログラムを起動
- 結果を簡単にレビュー

- サンプルを置く
- スペクトルの測定
- 瞬時に元素を特定
- スペクトルと共に表示される濃度

- 結果ブロックを選択する
- レポート・テンプレートを選択
- ワンクリックでエクスポート
- PDFを自動生成


