FISCHERSCOPE® XDV®
新規
6x
¹ ²
ポジショニングの高速化
ポジショニングの高速化
14x
¹
より速いオートフォーカス
より速いオートフォーカス
10x
¹
より高いカメラ解像度
より高いカメラ解像度
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FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDDとの比較。
² 試料表面による
スピードと精度の融合
FISCHERSCOPE® XDV®はフィッシャーのハイエンド蛍光X線測定装置で、微小構造の自動測定に最適です。この装置は、使いやすさ、最高速度、精度の高さが印象的です。全方位に配置されたステータスランプが現在の装置の状態を一目で示し、モーター駆動の測定フードを全自動で開閉できるため、安全で便利な操作が可能です。最新のFISIQ® X XRFソフトウェアは、効率的でスムーズなプロセスを実現し、測定プロセスのスループットを向上させます。
高速Z軸。
サンプルの高速位置決め。
オートフォーカス2秒以下。
測定対象物の高速捕捉とフォーカスにより、より効率的な測定プロセスを実現します。
高解像度オーバービューカメラ。
より鮮明で詳細な画像で、より良い概観を保ちます。
マルチゾーンLED照明。
どんな表面でも常に完璧な照明。
自動測定フード
手動または自動操作で最大限の柔軟性を実現
最適化された測定ジオメトリー。
X線管、試料、検出器の間隔を広げることで測定精度を向上
直感的なステータス表示。
装置の状態を一目で確認
細部まで照らすマルチゾーンLED照明と高解像度オーバービューカメラにより、完璧な照明と最も正確な分析を実現します。
ハンズフリーで楽々操作：電動フードによる卓越した柔軟性。ボタンを押すだけの手動操作、またはソフトウェア制御による自動化。シームレスで中断のないプロセスを実現します。
X線管、試料、検出器間の距離を最適化することで、最大強度を実現し、優れた測定精度を保証します。
LEDライトストリップは機器の状態を一目で示します。青色の光はスタンバイモード、緑色の光は測定準備完了、オレンジ色の光は測定中であることを示します。
FISIQ® X: AIサポートスペクトラムモード搭載の最新かつ初のXRFソフトウェア。シンプルで効率的なワークフローで生産性を向上します。
特徴
タングステン陽極のマイクロフォーカス・チューブ。
自動測定フード
シリコンドリフト検出器 20 mm² または 50 mm² 薄層での最高精度用
4倍可変絞り、6倍可変フィルター
型式認証された完全保護装置
よりスマートな測定プロセスを実現するAIサポートスペクトラムモードを搭載したソフトウェアFISIQ® X
トップダウンによる無段階測定距離
サンプルの高さは140mmまで可能
自動測定用のプログラム可能な測定テーブル
応用例
- 50nm（0.002ミル）以下の金／パラジウムコーティングなど、非常に薄いコーティングの分析
- エレクトロニクスおよび半導体産業における機能性コーティングの測定。例えば、リードフレーム用の2 nm (0.00008 mil)までの金層のコーティング厚さの測定。
- シリコンウェハー上の超薄膜コーティングの測定
- ウェハー上の軽元素コーティングの測定（Al、Ti、NiP）
- 燃料電池およびバッテリーフォイル：有機マトリックス（カーボン）中の金属（Pt、Ir、Ce；Ni、Co、Mn）
- 最高水準の金分析
- 複雑なマルチコーティングシステムの分析
- 品質管理などの自動測定
その他のアプリケーションをお持ちですか？それならご連絡ください！
製品ビデオ
パンフレット
FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®
