FISCHERSCOPE® XDAL® 発売予定
新規
比類のない高精度
最適化された測定ジオメトリ
最適化された測定ジオメトリ
高速Z軸により、
超高速な
サンプル位置決めを実現
サンプル位置決めを実現
向上した使いやすさ
と
FISIQ® X ソフトウェアによる ユーザーガイダンス
FISIQ® X ソフトウェアによる ユーザーガイダンス
簡単操作で最大の速度と精度を実現
精度が限界を押し広げるとき、当社の FISCHERSCOPE® XDAL® は可能性を再定義します。FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® の革新的な後継機として、薄膜および極薄膜コーティング（< 0.05 μm）や ppm レベルの材料分析に最適です。強力な 50 mm² シリコンドリフト検出器を搭載した XDAL® 650 と、20 mm² シリコンドリフト検出器を搭載した XDAL® 620 からお選びいただけます。最先端の FISIQ® X XRF ソフトウェアと組み合わせることで、このハイエンドソリューションは、より高い利便性、安全性、そして最大限のスループットを実現するスムーズな測定プロセスを保証します。
超高速サンプル位置決め。
Z軸速度が6倍向上*
迅速なサンプル取得。
2秒未満でオートフォーカス ― 14倍高速化*
自動化された操作。
自動または手動フードにより最大限の柔軟性を実現
最適なサンプル照明と画像取得。
カメラ解像度が10倍向上*、さらにマルチゾーンLED照明を搭載
比類のない高精度と再現性。
最適化された測定ジオメトリ
デバイスの状態を常に確認可能。
直感的な180°ステータスライト
向上した操作性とユーザーガイダンス。
新しい FISIQ® X ソフトウェア
大型部品にも対応。
Cスロットにより大型部品の測定が可能
マルチゾーンLED照明を搭載した高精細カメラ：マット、光沢、反射面など、あらゆる試料表面に対して最適な照明を提供。
自動または手動であなたの方法で測定でき、最大限の柔軟性のために電動フードがサポートされています。
X線管、試料、検出器間の距離を最適化することで最大の強度を確保し、比類のない測定精度を実現。信頼性と高品質な結果を最大限に保証します。
LEDライトストリップが装置の状態を直感的に知らせます。青はスタンバイ、緑は測定準備完了、点滅するオレンジは測定中を示します。
FISIQ® Xは、AI支援のスペクトラムモードを備えた業界初の先進的なXRFソフトウェアです。使いやすく効率的な操作で、あなたの生産性を飛躍的に向上させます。
特長
タングステン陽極のマイクロフォーカス・チューブ。
大きなサンプルを測定するためのCスロットハウジング
シリコンドリフト検出器 20 mm² または 50 mm² 薄層での最高精度用
4倍可変絞り、6倍可変フィルター
完全に保護された手段としての個別承認
FISIQ® X ソフトウェア、AI 支援スペクトルモードでよりスマートな測定プロセスを実現
トップダウンによる無段階測定距離
サンプルの高さは140mmまで可能
自動測定用の自動フードおよびプログラム可能な測定テーブル
アプリケーション例
- 0.1 μm (0.004 mils) 以下の極薄コーティングの分析
- エレクトロニクスおよび半導体産業における機能性コーティングの測定（リードフレーム、コネクター、プリント基板など
- 複雑な多層システムの測定
- 品質管理などの自動測定
- はんだ中の鉛含有量の測定
- NiPコーティング中のリン含有量の測定
- プリント基板の仕上げ判定
その他のアプリケーションをお探しですか？ぜひお問い合わせください！
アプリケーションノート
チュートリアルノート
製品ビデオ
パンフレット
FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®
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