FISCHERSCOPE® XDAL® 発売予定
新規
6倍
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高速な位置決
高速な位置決
14倍
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高速オートフォーカス
高速オートフォーカス
10倍
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高解像度カメラ
高解像度カメラ
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FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237との比較。
² 試料表面による
簡単操作で最大の速度と精度を実現。
FISCHERSCOPE® XDAL®は、0.05μmの超薄膜測定やppmレベルの高感度材料分析に最適な最先端モデルです。最新世代の50mm²シリコンドリフト検出器を搭載し、卓越した性能を発揮します。直感的なステータスライトと自動測定フード、さらに革新的なFISIQ® X XRFソフトウェアが連携し、快適で安全な測定体験と驚異的な処理能力を実現。作業効率を飛躍的に向上させます。
高速Z軸。
サンプルの高速位置決め。
オートフォーカス2秒以下。
測定対象物の高速捕捉とフォーカスにより、より効率的な測定プロセスを実現します。
高解像度オーバービューカメラ。
より鮮明で詳細な画像で、より良い概観を保ちます。
マルチゾーンLED照明。
どんな表面でも常に完璧な照明。
自動測定フード
手動または自動操作で最大限の柔軟性を実現
最適化された測定ジオメトリー。
X線管、試料、検出器の間隔を広げることで測定精度を向上
直感的なステータス表示。
装置の状態を一目で確認
マルチゾーンLED照明を搭載した高精細カメラ：マット、光沢、反射面など、あらゆる試料表面に対して最適な照明を提供。
ボタン操作またはソフトウェア制御で開閉可能な電動フード。スムーズで効率的な作業を実現します。
X線管、試料、検出器間の距離を最適化することで最大の強度を確保し、比類のない測定精度を実現。信頼性と高品質な結果を最大限に保証します。
LEDライトストリップが装置の状態を直感的に知らせます。青はスタンバイ、緑は測定準備完了、点滅するオレンジは測定中を示します。
FISIQ® Xは、AI支援のスペクトラムモードを備えた業界初の先進的なXRFソフトウェアです。使いやすく効率的な操作で、あなたの生産性を飛躍的に向上させます。
特長
タングステン陽極のマイクロフォーカス・チューブ。
大型サンプルの自動測定用Cスロットハウジング
シリコンドリフト検出器 20 mm² または 50 mm² 薄層での最高精度用
4倍可変絞り、6倍可変フィルター
型式認証された完全保護装置
よりスマートな測定プロセスを実現するAIサポートスペクトラムモードを搭載したソフトウェアFISIQ® X
トップダウンによる無段階測定距離
サンプルの高さは140mmまで可能
自動測定用のプログラム可能な測定テーブル
アプリケーション例
- 0.1 μm (0.004 mils) 以下の極薄コーティングの分析
- エレクトロニクスおよび半導体産業における機能性コーティングの測定（リードフレーム、コネクター、プリント基板など
- 複雑なマルチコーティングシステムの測定
- 品質管理などの自動測定
- はんだ中の鉛含有量の測定
- NiPコーティング中のリン含有量の測定
- プリント基板の仕上げ判定
その他のアプリケーションをお探しですか？ぜひお問い合わせください！
製品ビデオ
パンフレット
FISCHERSCOPE® XDAL® & XDV®
