膜厚測定

プラグ、コンタクト、ワイヤーのような細長い部品の膜厚測定や、電気めっき浴の金属含有量や単純な合金層の組成を測定するための柔軟な測定装置です。

金属と貴金属の分析、単純な形状のサンプルのコーティング厚さ測定、RoHSスクリーニング用の万能装置。

大量生産のメッキ部品や浴液分析用の堅牢なX線蛍光測定器。

小型部品や小型構造物の検査、軽金属、硬質皮膜、薄い電気メッキ部品の測定用の万能装置。

0.05μm未満の薄層および極薄層の自動測定、およびppm範囲の材料分析用の万能装置。

非常に薄い層や複雑な層の検査から、非常に低い検出限界でのRoHSスクリーニングまで、あらゆる用途に対応するプレミアムモデル。

複雑な多層システムだけでなく、最小で平坦なコンポーネントや構造体の測定にも対応する万能測定器。

ポリキャピラリーX-RAY光学系を採用したハイエンド蛍光X-RAY測定装置。

直径6～12インチのウェハー上の薄膜および多層システムの自動測定用特殊装置。

PCB上のコンポーネントや小型構造物の簡単な測定に適したユニバーサルなエントリーレベルの測定器です。

小型構造物、多層膜、機能性コーティング、0.1 µm未満の薄膜膜の測定に適した汎用装置。

信頼性が高く、完全自動XDV®μ-PCB装置は、PCB上の極小構造物や極薄コーティングの測定に特化したソリューションです。

精密な膜厚測定と材料分析のためのモバイル型汎用ハンドヘルドデバイス。

500を超えるトレーサブルな校正標準器により、あらゆる測定タスクにおいて、絶対的に信頼できる測定結果を得ることができます。

豊富な製品ラインナップに加え、測定器用のアクセサリーも幅広く取り揃えています。

腐食保護や工業用アプリケーションにおいて、迅速かつ簡単にコーティングの厚さを測定するための主要な工業用測定器シリーズ。

携帯性と機能性に優れ、種類豊かなプローブにより幅広くアプリケーションに対応します。

膜厚測定において最高の柔軟性と制御性を実現する装置シリーズ。検査計画に最適です。

下層の影響を受けずにプリント基板の銅厚を測定できる、堅牢で強力なハンドヘルド装置。

当社の触覚製品群の中で最も経験豊富なハンドヘルド機器 - あらゆる特殊なアプリケーションを確実に解決します。

自動車からルーフパネルまで、二重層の厚さを測定するスペシャリスト。

最大8つの測定モジュールを備えた、パラレルコーティング膜厚測定および材料試験用の汎用マルチ測定システム。

ベータ後方散乱法を使用して、さまざまな基板上の有機および金属層の厚さを測定するモジュール。

クーロメトリック法による塗膜の厚さと電気化学的電位を測定する卓上型装置。

膜厚測定用の自社製プローブは、最も要求の厳しい測定タスクに対応する実証済みのFischer品質です。市場最大のプローブポートフォリオをご利用ください。

有機・誘電体単層・多層膜の膜厚測定、テラヘルツ波による材料分析のための自動測定ソリューション。

堅牢なインライン蛍光X線分析装置は、製造工程中の固体ストリップ、パンチンググリッド、またはコーティングされた膜を測定します。

生産管理システムとの接続が可能な、薄膜およびフィルムシステムの測定・分析用の堅牢な蛍光X線分析装置です。

直径12インチまでのウェハー上の極小構造、極薄コーティング、多層システムの自動測定・分析用特殊装置。

様々なアプリケーションに対応するインラインのオールラウンダー。自動膜厚測定および材料試験用のユニバーサル測定システム。

最大4つのガルバニック浴の金属濃度を完全に自動分析するための堅牢で効率的なインライン蛍光X線分析装置。

有機・誘電体単層・多層膜の膜厚測定、テラヘルツ波による材料分析のための自動測定ソリューション。