材料分析

非常に薄く複雑なコーティングの膜厚測定や、非常に低い検出下限での汚染物質分析のための革新的な卓上型サクセサー。

非常に薄く複雑なコーティングの膜厚測定や、ppmレベルの材料分析に対応した革新的な卓上型測定器。

プラグ、コンタクト、ワイヤーのような細長い部品の膜厚測定や、電気めっき浴の金属含有量や単純な合金層の組成を測定するための柔軟な測定装置です。

金属と貴金属の分析、単純な形状のサンプルのコーティング厚さ測定、RoHSスクリーニング用の万能装置。

宝石、硬貨、貴金属の迅速で費用対効果の高い非破壊分析用のコンパクトで堅牢な卓上型装置。

宝石、硬貨、貴金属の最も強力で迅速な非破壊分析用に最適化された堅牢な卓上型蛍光X-RAY分析装置です。

極小構造物、極薄多層コーティング、機能性コーティング、極薄コーティング≤0.1µmを測定する汎用装置。

大量生産のメッキ部品や浴液分析用の堅牢なX線蛍光測定器。

小型部品や小型構造物の検査、軽金属、硬質皮膜、薄い電気メッキ部品の測定用の万能装置。

0.05μm未満の薄層および極薄層の自動測定、およびppm範囲の材料分析用の万能装置。

非常に薄い層や複雑な層の検査から、非常に低い検出限界でのRoHSスクリーニングまで、あらゆる用途に対応するプレミアムモデル。

複雑な多層システムだけでなく、最小で平坦なコンポーネントや構造体の測定にも対応する万能測定器。

ポリキャピラリーX-RAY光学系を採用したハイエンド蛍光X-RAY測定装置。

直径6～12インチのウェハー上の薄膜および多層システムの自動測定用特殊装置。

PCB上のコンポーネントや小型構造物の簡単な測定に適したユニバーサルなエントリーレベルの測定器です。

小型構造物、多層膜、機能性コーティング、0.1 µm未満の薄膜膜の測定に適した汎用装置。

信頼性が高く、完全自動XDV®μ-PCB装置は、PCB上の極小構造物や極薄コーティングの測定に特化したソリューションです。

精密な膜厚測定と材料分析のためのモバイル型汎用ハンドヘルドデバイス。

500を超えるトレーサブルな校正標準器により、あらゆる測定タスクにおいて、絶対的に信頼できる測定結果を得ることができます。

豊富な製品ラインナップに加え、測定器用のアクセサリーも幅広く取り揃えています。

堅牢なインライン蛍光X線分析装置は、製造工程中の固体ストリップ、パンチンググリッド、またはコーティングされた膜を測定します。

生産管理システムとの接続が可能な、薄膜およびフィルムシステムの測定・分析用の堅牢な蛍光X線分析装置です。

直径12インチまでのウェハー上の極小構造、極薄コーティング、多層システムの自動測定・分析用特殊装置。

最大4つのガルバニック浴の金属濃度を完全に自動分析するための堅牢で効率的なインライン蛍光X線分析装置。

500を超えるトレーサブルな校正標準器により、あらゆる測定タスクにおいて、絶対的に信頼できる測定結果を得ることができます。

豊富な製品ラインナップに加え、測定器用のアクセサリーも幅広く取り揃えています。