校正およびアクセサリー

測定結果に対して焦点を合わせています。Fischerの膜厚測定、素材分析、材料試験、ナノインデンテーション用のすべての測定装置には、幅広い機能を搭載した直感的に使えるソフトウェアが標準で付属します。測定スタンドのようなアクセサリーやソフトウェアを使用すると、測定装置をさらに自分の要件に対して調整することができます。また同時に、使いやすさや測定結果の精度を改善することができます。

測定スタンドとサンプルホルダー

測定の効率性と信頼性が高まります: 測定スタンドとサンプルホルダーを使うと、難しいサンプル形状であっても測定を簡単に実行することができます。

DataCenter、DataCenter IP

測定値自動分析用ソフトウェアのDataCenter、DataCenter IP Inspection Planを使うと、時間を節約してエラーを取り除くことができます。

WinFTM

FischerのすべてのX線装置の評価用プログラム: WinFTMは、プロフェッショナルな膜厚測定と素材分析のためにすべての機能を組み合わせることができます。

校正

精度が重要とされる、材料の試験および分析、膜厚の決定、ナノインデンテーションを行う装置のためのさまざまな校正アクセサリーです。

FISCHERへの連絡

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Fischer Instruments K.K.
Shinmei 1-9-16, Soka-shi
Saitama-ken/日本
電話: (+81) 48 929 3455
Eメール: japan@helmutfischer.com
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