XUL / XULM

XUL® シリーズの測定装置は、電気メッキや電子部品製造で膜厚を迅速かつ高精度に測定する必要がある場合に適したソリューションです。この蛍光X線式装置は下から上に測定するため、簡単にサンプルを位置決めすることができます。このシリーズのすべてのX線装置は、同じ検出器を備えています。コリメーター、フィルター、X線管は、個々の測定に応じて選択することができます。

XULシリーズ

特徴:

  • シンプルで高速なポジショニング – 広い測定チャンバーと下から上への測定方向により、プリント回路基板やフレキシブル回路基板など大きなサンプルでも対応可能
  • 極めて幅広いハードウェアオプション。このため、さまざまな測定作業に適合
  • オプションでマイクロフォーカスX線管を搭載可能。これにより、直径わずか100 µmの小さな構造や測定表面に対応可能

用途:

  • クロム皮膜。装飾クロム仕上げの施されたプラスチック製品など
  • 鋼鉄の上の亜鉛などの耐腐食性皮膜
  • 回路基板およびフレキシブル回路基板上の皮膜
  • プラグや電気接点の接触表面
  • 電気メッキ浴分析

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