XDL / XDLM / XDAL

モーター駆動 (オプション) を備え上から下へ測定するXDL® シリーズの測定装置は、試験を自動で連続測定することができます。X線源、フィルター、コリメーター、検出器などさまざまなバージョンをご利用いただけます。測定に最適な構成のX線装置を選択することができます。

XDLシリーズ

特徴:

  • 異なるハードウェアコンポーネントによりさまざまな測定作業に対応する蛍光X線式装置
  • 測定距離を変えられるため (最大80 mm)、回路基板や
  • プログラム可能なXYテーブルおよびZ軸により自動連続測定可能 (オプション)
  • 極めて薄い層の測定に最適。高いエネルギー分解能を備えるシリコンドリフト検出器 (XDAL) を使用

用途:

膜厚測定

  • 大きなボードやフレキシブル回路基板 上の皮膜測定
  • 回路基板の薄い導電層/分離層
  • 3次元的なコンポーネントの皮膜
  • クロム皮膜。装飾クロム仕上げが施されたプラスチック製品など

素材分析

  • 電気メッキ浴分析
  • エレクトロニクスおよび半導体産業の機能皮膜分析
  • CrN、TiN、TiCNなどの硬質材料皮膜の分析

FISCHERへの連絡

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Fischer Instruments K.K.
Shinmei 1-9-16, Soka-shi
Saitama-ken/日本
電話: (+81) 48 929 3455
Eメール: japan@helmutfischer.com
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