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CMS2
COULOSCOPE CMS2シリーズの装置は、電解式による脱メッキを利用して膜厚を測定します。特に、あらゆる種類の基材上の多層皮膜を高い精度で決定するため、クーロメトリ法を使用することができます。CSM2 STEPは、単一層のSTEP試験測定の規格に沿って行ったり、多層ニッケルの品質管理などで、電位差を検出したりするために利用されます。
特徴:
- 非常に正確な脱メッキ技術 (クーロメトリ) による高精度多層測定
- ディスプレイやGUIなどにより簡単な操作が可能
- 高い適合性: 金属および非金属基材上の測定、また多層皮膜にも適合
- 幅広いアクセサリーにより個別の要件に合わせて調整可能
用途:
- 金属および非金属基材上のあらゆる種類の金属皮膜
- 単一層および複数層の膜厚測定
- 特にSTEP試験により多層ニッケルの測定に適合
- 適合膜厚: 0.05 µm～40 µm
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