デスクトップ型測定装置

Fischerの蛍光X線式あるいはさまざまなプローブ式測定技術を使用するデスクトップ膜厚装置は、格別なパフォーマンスと柔軟性を提供しています。装置は幅広い測定技術を適用し、あらゆる作業に対して適切なソリューションを見つけることができます。デスクトップ型の装置は、ソフトウェアやハードウェアインターフェースを通じて、生産および管理システムに簡単に組み込むことができます。

XAN500

ハンドヘルド型としての使い方のほか、据え置き型、生産ライン組み込み型としても

MMS PC2

さまざまな測定技術に対応するモジュラーシステム: 膜厚測定や材料試験に合わせて変更する作業に最適です。

BETASCOPE

ベータ線後方散乱式による膜厚測定: 3 µm未満の薄膜や柔らかい層、プラスチック皮膜に適合します。

CMS2

電解式による金属または非金属の基材上のほぼすべての金属皮膜 (多層含む) の厚さ測定用のデスクトップ型装置です。

GOLDSCOPE

貴金属用の蛍光X線分析装置

XAN

ゴールドジュエリーやその他の貴金属を迅速かつ高効率に分析する測定装置です。

XUL / XULM

特に電気メッキ産業で素早く効率よく膜厚測定をするのに最適な蛍光X線に基づく堅牢な装置です。

XDL / XDLM / XDAL

汎用モデル: XDL装置は包括的に設定オプションを備えており、膜厚や材料組成の手動測定や連続試験に最適です。

XDV-SDD

FISCHERSCOPE® XDV-SDDは、膜厚測定および素材分析において、もっとも測定の需要を満たすよう設計された測定器です。

XDV-µ

XDV-µシリーズは、エレクトロニクス産業やジュエリー産業における微小構造部向けの測定装置です。

XUV

軽元素分析用の真空チャンバーを備えた蛍光X線式の装置です。

FISCHERへの連絡

Contact

Fischer Instruments K.K.
Saitama-ken/日本

お電話での問い合わせ
電話: (+81) 48 929 3455
Eメール: japan@helmutfischer.com
お問い合わせフォーム