X-RAY 5000

X-RAY 5000シリーズの装置は、モジュラーユニットとして、簡単に製造ラインに統合可能です。例えば、大きな表面積を持つ下地材の上の錫の皮膜を測定する場合など、X-RAY 5000は理想的なソリューションとなります。下地および皮膜材料によって、X線源、検出器、プライマリフィルターは、お客様のニーズに合わせてカスタマイズすることができます。

X-RAY 5000

特徴

  • 生産プロセス中での連続測定可能。生産システムと接続可能
  • 柔軟な用途: 真空または空気中、最高表面温度 400 °C
  • 厳しい条件下での持続可能な高精度測定に対応しており頑丈な設計と構造
  • 大きな表面積を持つ製品の膜厚測定や素材分析に最適

用途:

膜厚測定

  • 太陽光産業でのCIGS、CIS、CdTe、CdSの膜厚
  • 金属ストリップ、金属箔、プラスチック箔上の厚さ数µmの薄膜層

素材分析

  • 太陽電池でのCIGS、CIS、CdTe、CdS層の組成
  • 継続的な生産プロセスでの金属皮膜分析
  • スパッタおよび電気メッキプラントのプロセス監視

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