蛍光X線

DIN ISO 3497およびASTM B 568に従ったエネルギー分散型 (XRFA) の蛍光X線式分析

測定方法:

蛍光X線式分析は、素材サンプルの原子が一次X線照射によって励起すると、最内殻から電子が放出され、結果として生じる空孔が外殻の電子によって埋められるという現象に基づいています。

Atomic model for the X-Ray Fluorescence Analysis method.
Atomic model for the X-Ray Fluorescence Analysis method.

これらの遷移の間に、各元素に特有の蛍光放射線が生成されます。検出器がこの放射線を読み取って、サンプルの組成に関する情報が提供されます。

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