STEP試験

ASTM B764およびDIN EN 16866に従ったSTEP試験測定です

STEP試験 (Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination) は、複数のニッケル皮膜の個々の膜厚と、層間の電気化学ポテンシャルの差異を同時に決定する長い間標準的に利用されている手法です。膜厚の測定は、クーロメトリ法によって実行され、ポテンシャルプロファイルは、AgCl被膜の銀の参照電極を使って捕捉されます。このポテンシャルプロファイルはディスプレイに表示されます。プロットにカーソルを合わせると、個々の膜厚とポテンシャル間の差異を表示することができます。

Schematic diagram of the STEP TEST method.
Schematic diagram of the STEP TEST method.
Schematic diagram of the STEP TEST method.

この方法により比較可能な結果を得るには、参照する電極が試料から同じ距離に常に保たれる必要があります。このため、特殊な測定セルが利用されます。この参照電極はコーン形状の銀で、測定セルの下部ハウジングコンポーネントを形成します。さらに、ガスケットが必要となります。この測定セルの設計によって、参照電極と試料の距離が均一に保たれることが保証されます。

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