ベータ線後方散乱式測定法

DIN EN ISO 3543およびASTM B567aに従ったベータ線後方散乱式測定法です。

Schematic diagram of the Beta-backscatter measuring method.
Schematic diagram of the Beta-backscatter measuring method.

機能原理

アイソトープ源がベータ線を放出します (電子線)。これが対象物の皮膜表面を貫通し、皮膜や下地材料の原子に作用します。測定効果は、ガイガーミュラー計数管で検出される後方散乱された電子量によります。膜厚は、皮膜と下地材料の原子番号が少なくとも5つ以上離れている場合に、この方法で測定することができます。

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