膜厚測定

Fischerの測定装置は、表面の膜厚を正確かつ高い信頼性で測定します。

ベータ線後方散乱式測定法

DIN EN ISO 3543およびASTM B567aに従ったベータ線後方散乱式測定法です。

クーロメトリ

DIN EN ISO 2177に従ったクーロメトリ膜厚測定です。

STEP試験

ASTM B764およびDIN EN 16866に従ったSTEP試験測定です

渦電流式 (振幅感応式)

ISO 2360およびASTM 7091に従った渦電流試験法 (振幅感応式)。

渦電流位相式 (位相変位感応式)

ISO 21968に従った渦電流試験法 (位相変位感応式)

電磁式

ISO 2178:2016-3およびASTM 7091に従った磁気誘導試験法

デュープレックス測定

電解またはわずかに溶融亜鉛メッキされた皮膜の存在するシートメタル上の二重測定

磁気式

ISO 2178およびASTM 7091に従った磁気式試験法

電気抵抗式

DIN EN 1457に従った電気抵抗式測定法です

蛍光X線

DIN ISO 3497およびASTM B 568に従ったエネルギー分散型 (ED-XRF) の蛍光X線式分析

FISCHERへの連絡

Contact

Fischer Instruments K.K.
Saitama-ken/日本

お電話での問い合わせ
電話: (+81) 48 929 3455
Eメール: japan@helmutfischer.com
お問い合わせフォーム

インフォメーション