用語集

膜厚測定、素材分析、材料試験、表面特性解析のトピックに関する技術用語集です。

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ESP法 (Enhanced Stiffness Procedure)
ESP法 (Enhanced Stiffness Procedure)

ESP (Enhanced Stiffness Procedure) 法に従って測定すると、荷重を徐々に増やしたり減らしたりできます。これによって、圧痕の弾性値 (EIT)、硬さ (HIT)、またはビッカース硬度 (HV) など深さ依存および力依存の特性の判定を迅速に同じ場所で行うことができます。

STEP試験
Definition: STEP試験

STEPテストは、ニッケルの多層皮膜の間の電位差と膜厚を同時に測定するために使用され、腐食挙動を評価することができます。

クーロメトリ法の一形態です。

クーロメトリ法
Definition: クーロメトリ法

クーロメトリ法は、DIN EN ISO 2177に準拠した金属皮膜の厚さを決定する電解法です。

電気メッキの質の確認や、プリント基板上に残る純錫の厚さの監視のために使用されることもよくあります。この手法は、プラスチック上の銅 > ニッケル > クロムのような、多層皮膜にも使用できます。

 

シャッター
シャッター

FISCHERのX線装置のシャッターは、ビームの経路に直接配置されており、測定の間のみ開きます。閉じられた状態では、一次照射は測定チャンバーに入ることを防ぎます。シャッターは安全システムにより制御され、ハウジングが完全に閉じている時のみ開きます。これにより、操作員への放射線のリスクが取り除かれます。

 

スペクトル
スペクトル

蛍光X線式分析では、サンプルから放出される放射は一つのスペクトルに描かれます。このラインから、サンプルに含まれる元素を識別することができます。FISCHERのWinFTM® ソフトウェアは、このスペクトルから、膜厚や元素の濃度など、希望するパラメータを計算します。

 

フェライト含有量測定
フェライト含有量測定

フェライト含有量測定: オーステナイト鋼または二相鋼のフェライト含有量の測定、およびオーステナイト素材の変形部分に関するDIN EN ISO 17655およびBasler基準に基づく測定です。フェライト含有量が低すぎる場合、溶接素材は高温割れしやすくなります。フェライト含有量が高すぎる場合、鋼の硬度、延性、腐食耐性が低くなります。

使用者は、影響を受ける要因を個別に考慮する必要があります。例えば、サンプルの形状、クラッディングの厚さ、透過性構造の外装形状などが挙げられます。

 

プライマリフィルター
プライマリフィルター

特殊なフィルターが、指定される使用事例での一時X線照射のエネルギー分布を最適化し、照射の不要なスペクトル成分を吸収します。装置の種類によって、独立した固定フィルターか交換可能なマルチフィルターが採用されます。

 

押し込み試験
押し込み試験

FISCHERのすべての微小硬さ試験装置は、マルテンス硬さ (HM) の決定のために、計装化押し込み試験法 (ナノインデンテーションとも呼ばれる) を採用しています。この方法は、他の硬さ試験と比べて、材料の塑性挙動を判定するだけでなく、圧痕の弾性係数 (EIT)、硬さ (HIT)、クリープ (CIT)、および塑性や弾性の変形エネルギーも読み取ることができます。

 

放射線源
放射線源

蛍光X線式分析に必要な一次X線照射は、加熱された陰極が電子を放出し、これに高い電圧が印可されて非常に高い速度まで加速されるX線管を使って生成されます。X線照射は、その電子が管の陽極素材 (通常タングステンかモリブデン) に衝突した時に生み出されます。X線管が次の数年間高い信頼性で動作することを保証するには、それぞれのピースが幅広い受入検査試験をパスする必要があります。

FISCHERが開発したX線生成器は、遮蔽された油冷の管を高電圧の生成と組み合わせています。これにより、優れた安定性と長い製品寿命が実現されています。

有孔性試験
有孔性試験

この試験方法は、すべての絶縁膜の素材が空気よりはるかに高い破壊強度を有しているという事実に基づいています。細孔は、試験電極と導電ベースの間のスパーク (短絡) を通じて、欠陥のある地点で検出されます。欠陥のある部分は、薄い空気のチャネル (細孔、亀裂) または下にある導電ベースの上の非常に薄い皮膜である可能性があります。

 

材料分類 (COM)
材料分類 (COM)

FISCHERのX線装置ではCOM機能を使用しています。これにより、未知のサンプルを自動的に事前に定義された材料分類に割り当てることができます。これらの分類としては、異なる合金、固有の膜厚、皮膜構造の濃度範囲など、さまざまな種類の材料が挙げられます。これにより、WinFTM® ソフトウェアは、自動的に測定に使用する適切なアプリケーションを選択することができます。

例えば、金の分析では、WinFTM® は、最初に合金の種類を決定して高い精度で金の含有量を決定するのに必要な適切な測定アプリケーションを選択します。

検出器
検出器

X線検出器は、サンプルから放出される蛍光X線放射のエネルギー分布を測定します。さまざまな利用分野での目的に対して最適なタイプの検出器をご利用いただけます。

距離制御測定 (DCM)
距離制御測定 (DCM)

形状が不規則な部分や圧痕を測定するため、FISCHERSCOPE® X-RAY装置には、距離に基づく測定修正を行うDCM法による特殊な機能が実装されています。

この機能を使うと、複雑な表面形状の試験や圧痕での測定も行うことができます。ここで、WinFTM® は、特定の領域の測定結果を計算する時に、自動的に現在の測定距離を考慮します。

開口
Definition: 開口

開口 (コリメーター) を使用することで、一次X線ビームの断面を制約することができ、事前に定義されたサイズの測定点を作ることができます。これにより、試料の形状に対して高い精度でX線ビームのサイズと形状を調整することができます。測定のシステムに応じて、独立した固定開口あるいは交換可能な複数の開口が採用されます。

リードフレーム上の接合部など、極めて小さい物体の測定に関しては、開口はミラーまたはポリキャピラリーを使った特殊なX線光学装置を使って代替されます。これは、極めて小さな測定点と高い励起強度を同時に実現することができます。

陽極酸化皮膜の封孔品質
陽極酸化皮膜の封孔品質

陽極酸化処理の耐候性は封孔品質の関数です。DIN EN ISO 2931およびASTM B 457-67によると、陽極酸化物の膜が誘電体を形成するコンデンサのアドミッタンス (Y) は封孔品質の良い指標となります。ANOTEST® YMP30-Sは、標準に従ってアドミッタンスを測定し、現場での試験に最適な設計となっています。

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Fischer Instruments K.K.
Shinmei 1-9-16, Soka-shi
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電話: (+81) 48 929 3455
Eメール: japan@helmutfischer.com
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