接触測定法

私は平らなプレートの上で測定装置を校正しています。今、直径の小さな曲面部分を測定したいと考えています。校正せずに、このまま続行しても大丈夫でしょうか?

いいえ、平らなプレート上での校正は、システム上、曲面上では測定エラーの原因となります。これは、測定値が大きくなりすぎることを意味しています。これは、サンプル (ここでは曲面のある部品) の測定信号を、平面のサンプルからのものとして装置が評価することによる現象です。

データの転送がうまく動作しないのはなぜですか?

考えられる理由は次の通りです: 関連する管理者権限を持っている正しいドライバユニットを選択しましたか?PCのソフトウェアで正しいインターフェースを選択しましたか?(デバイスマネージャーも確認してください)

2人の測定者の測定が違う結果になる場合があるのはなぜですか?これに関して考えられる理由は何ですか?

測定装置の正確性は、校正基準によって保証されます。校正は、実際の皮膜の無いサンプルで実行される必要があります。さらに、注意して同じ測定位置で測定する必要があります。有意な平均値を得るには、十分に測定を行うことが重要です。

接触式測定の校正を検証するにはどうすれば良いですか?

皮膜の無いサンプル上で校正フォイルを再測定して校正を確認します。後で測定する場合にも、この測定位置である必要があります。これには、Fischerのベース校正プレートは便利ではありません。

渦電流位相式測定法どの皮膜-基材の組み合わせを測定できますか?

ここではさまざまな測定バージョンを利用できます。

渦電流位相式測定法では、鉄上の亜鉛など、鉄性金属上の非鉄金属を測定できます。Iso上の銅など、非導電性プラスチック上の非鉄金属も測定できます。非鉄金属上の鉄性金属の例としては、銅上のニッケルなども考えられます。

渦電流式測定法 どの皮膜-基材の組み合わせを測定できますか?

渦電流式測定法では、アルミニウム上の陽極酸化皮膜、銅上のラッカー、アルミニウム上のラッカー、チタン上のセラミックなど、非磁性金属の基材上の絶縁皮膜を測定できます。

電磁式測定法 どの皮膜-基材の組み合わせを測定できますか?

電磁式測定法では、鉄性素材上の亜鉛やラッカーなど、磁性を帯びた基材上の非磁性皮膜を測定できます。

FISCHERの接触式装置を使って正確に測定するには、どの要因が重要な役割を果たしますか?

FISCHERの接触式装置の測定の正確性は、膜厚、表面組成、使用されるプローブなどの要因によって異なります。理想的な条件での正確性や反復可能性の詳細は、プローブの技術データシートから確認することができます。

渦電流位相式および磁気誘導法のプローブによってニッケル皮膜の測定を行うのに検討する必要がある内容は何ですか?

特定される膜厚と実際に関連する部品の校正は絶対に行う必要があります。  ニッケル皮膜の磁化が、大きく異なる可能性があります。つまり、測定部分と校正部分の磁化の強さには差が生じる可能性があります。これは、測定エラーにつながります。特に受入検査では、問題が発生する可能性があります。

FERITSCOPEは、何を正確に測定しますか?

デルタフェライト、マルテンサイトなど、鋼鉄の中のすべての磁気相を測定します。これは、鋼鉄内の磁化金属相がさらに存在すれば、デルタフェライトの測定値がシステム上、高くなりすぎることを意味しています。この事実は、前もって検討する必要があります。

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