較正

測定値の比較で最低でも考慮に入れるべき統計パラメータは何ですか?

次のパラメータは、測定値の比較において重要です: 算術平均値、標準偏差、測定回数。

関連する標準偏差と測定回数がなければ、平均値を互いに有意に比較することはできません。

校正する必要があるのはなぜですか?

物理的な各測定法は、皮膜および基材のパラメータによって影響を受けます。これらのパラメータとしては、部品の形状、導電性、磁化可能性、皮膜密度、測定面などが挙げられます。

皮膜や基材のこれらのパラメータが変化するたびに、測定装置を校正し直す必要があります。

私は平らなプレートの上で測定装置を校正しています。今、直径の小さな曲面部分を測定したいと考えています。校正せずに、このまま続行しても大丈夫でしょうか?

いいえ、平らなプレート上での校正は、システム上、曲面上では測定エラーの原因となります。これは、測定値が大きくなりすぎることを意味しています。これは、サンプル (ここでは曲面のある部品) の測定信号を、平面のサンプルからのものとして装置が評価することによる現象です。

2人の測定者の測定が違う結果になる場合があるのはなぜですか?これに関して考えられる理由は何ですか?

測定装置の正確性は、校正基準によって保証されます。校正は、実際の皮膜の無いサンプルで実行される必要があります。さらに、注意して同じ測定位置で測定する必要があります。有意な平均値を得るには、十分に測定を行うことが重要です。

接触式測定の校正を検証するにはどうすれば良いですか?

皮膜の無いサンプル上で校正フォイルを再測定して校正を確認します。後で測定する場合にも、この測定位置である必要があります。これには、Fischerのベース校正プレートは便利ではありません。

FISCHERのX線装置によるノーマリゼーションはいつ使用するべきですか?

ノーマリゼーションは、現在の設定の測定タスクまたは新しい基材の測定タスクの調整要因となります。これは、プライマリフィルター、アノード電流、コリメーターが変更された場合に実行する必要があります。サンプルの合金組成や基材が変化した場合も必要となります。

使用しているFISCHERのX線装置が、正しくないと思われる値を示していると思われます。正しく測定していることを確認するにはどうすれば良いですか?

測定装置のモニタリングを選択する必要があります。校正標準製品を使用して再測定すると、測定装置を確認することになります。正しい値が満たされない場合、調整が必要です。

FISCHERのX線装置でのリファレンス測定とは何を意味しますか?

リファレンス測定とは、エネルギー軸の新しい校正です。これは、比例計数管装置の温度の影響に関するものです。

FISCHERのX線装置の校正を確認するにはどうすれば良いですか?

校正を確認するには、メニューの [Product (製品)] > [Measure Cal. standards (校正基準を測定)] で校正基準を再測定する必要があります。逸脱が見つかれば、装置には再校正が必要です。

FISCHERのX線の校正標準板は、どれぐらいの頻度で再認証する必要がありますか?

これは使用方法によって異なり、お客様において任意に決定していただきます。  通常は1-3年ごとに行います。

校正中にX線校正用フォイルを重ねることはできますか?

はい、できます。使用に関する目安としては、比例計数管装置では、2-3枚のフォイルを使用することができます。PIN/SDD検出器搭載の装置の場合、フォイルは1枚使用することができます。

FISCHER X線装置の元素プレートを改めて認証する必要がありますか?

その必要はありません。プレートの再認証は必要ありません。素子は飽和状態で、極めて安定しています。

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