ベータ線後方散乱測定法

ベータ線後方散乱式測定方法では、どの皮膜-基材の組み合わせを測定できますか?

ベータ線後方散乱式測定方法では、基材の原子番号から大きく離れた原子番号Zを持つ皮膜を測定できます。例えば、Ni上のAu、Fe上のラッカー、Cu上のSnなどを測定できます。

ベータ線後方散乱式測定方法では、どれぐらいの正確性で測定できますか?

これは、膜厚、表面組成、測定時間、皮膜と基材の原子番号の差などのパラメータによって異なります。

「密度」という要因は、校正で一定の役割を果たしますか?

はい、果たします。
例:
まず、測定装置をサンプルで校正します。その皮膜密度は2 g/cm³です。そして、新しいサンプルを密度1 g/cm³の皮膜で測定します。新しく校正しなければ、システム上、エラーが発生します。これは、測定値が必ず小さくなりすぎることを意味しています。これは、新しいサンプルの測定信号を、皮膜の密度が2 g/cm³であるものとして装置が評価することによる現象です。

FISCHERへの連絡

Contact

Fischer Instruments K.K.
Saitama-ken/日本

お電話での問い合わせ
電話: (+81) 48 929 3455
Eメール: japan@helmutfischer.com
お問い合わせフォーム