微小硬さおよび機械的特性

マイクロメートルおよびナノメートル範囲での柔らかい素材から極めて硬い材料や皮膜まで、正確に特性を解析する試験装置です。

カタログ ダウンロード
FISCHERSCOPE ST200 Brochure ST200 [PDF]

表面プロファイル測定

皮膜処理前に表面プロファイルを正確に測定する接触測定プローブ。

カタログ ダウンロード
FPR1 Brochure MMS-PC2 [PDF]

校正およびアクセサリー

膜厚測定、素材分析、材料試験、ナノインデンテーションのためのFischerの測定装置に対する校正標準製品、測定スタンド、ソフ
トウェア、アクセサリーです。

カタログ ダウンロード
DataCenter、DataCenter IP Brochure Datacenter [PDF]
データシート ダウンロード
校正 TDS X-RAY Calibration Standards [PDF]
TR-Characterization of Cd primary and secondary reference materials [PDF]
TR-Characterization of Cr/Cu, Cr/CuSn and Cr/Fe reference materials [PDF]
TR-Characterization of Cr/Ni reference material [PDF]
TR-Characterization of Cu primary and secondary reference materials [PDF]
TR-Characterization of self-supporting Au foils and Au layers on mylar [PDF]
TR-On the Re-calibration of Au-Layer Master Reference Standards [PDF]
TR-On the re-calibration of Ni-foil reference standards [PDF]
TR-On the re-calibration of Pt-foil and Pt/Si Reference Standards [PDF]
TR-Primary reference standards for precious metal analysis (gold alloys) [PDF]
TR-On the re-calibration of Rh-foil reference standards [PDF]
TR-Re-calibration and characterization of Ti secondary reference standards [PDF]
TR-Re-calibration of self-supporting Cr foils with Cr/Fe reference standards [PDF]
TR-Re-check of Sn foils, self-supporting and mounted over Ni [PDF]
TR-Re-evaluation of Cr/Cu reference standards [PDF]
TR-Re-evaluation of Cr/Fe reference standards [PDF]
TR-Recertification of Au on Pd on Ni master standard foils [PDF]
TR-Recertification of master standards with Pd layers [PDF]
TR-Recertification of Zn and Zn/Fe secondary (“master”) reference standards [PDF]
TR-Traceability of mass per unit area and composition of ZnNi-coatings [PDF]
TR-Traceability of the amount of Phosphorus in NiP-coatings [PDF]

FISCHERへの連絡

Contact

Fischer Instruments K.K.
Saitama-ken/日本

お電話での問い合わせ
電話: (+81) 48 929 3455
Eメール: japan@helmutfischer.com
お問い合わせフォーム