PHASCOPE PMP10

• スチール上のニッケル、亜鉛、銅の膜厚測定に
• 現場測定にも最適なハンディー型測定器

• 鉄上の亜鉛または銅の測定に最適なハンディー型膜厚測定器 
• 鉄上のニッケル; 鉄上の銅または青銅上の銅など
• 絶縁基板上の非鉄金属、例えばPBC上の銅皮膜
• 曲率形状；凹凸形状や粗い表面の測定
• PCBのスルーホール内の銅の測定
• 非鉄金属上のミクロンレンジの皮膜測定

ナット、ボルト、ねじなど小さい部品におけるスチール上の亜鉛皮膜の測定を簡単にできるハンディー型膜厚測定器PHASCOPE® PMP10。多様で簡単に非鉄金属の皮膜を測定。例えばPCB上のメッキ皮膜など絶縁基板上の非鉄金属、スチール上のニッケル皮膜、真鍮または青銅上の亜鉛または銅（導電率の差が十分にある場合に、非鉄金属上の非鉄金属の測定が可能）。

PHASCOPE PMP10には、時間の節約や品質管理工程の向上につながる特長があります。ESD2.4プローブを用いれば、小さなパーツの測定も大変有効です。その理由は、測定される部品の形状が測定へ影響をほとんど及ばさないためです。また、粗い表面の測定においても影響が少なく正確に測定ができます。

PHASCOPE PMP10は、渦電流位相式を採用しており、ナットやボルトのような小さな部品の測定に理想的です。なぜならば、形状が測定への影響をほとんど及ぼさないためです。また、この測定方式では、例えばPCB上の銅皮膜を保護皮膜の上からでも測定することができます。