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特長

  • ユニバーサルな膜厚測定および素材分析のための蛍光X線式分析器; DIN ISO 3497 and ASTM B 568に準拠
  • 重量: 1.9 kg
  • 1回の充電で最大6時間操作可能
  • 測定スポット: Ø3 mm
  • 高分解能なシリコンドリフト検出器
  • 保護等級IP54
  • 卓上型測定システムとしての専用のメジャリングボックス
  • データ評価ソフトウェアWinFTM®

アプリケーション

  • 大型品の測定、メジャリングボックスを使用した小型パーツの測定
  • 膜厚測定と組成分析を同時に測定 (例:Fe上のZnNiの測定)
  • 標準板なし測定で未知の合金を分析
  • 機械パーツやハウジングなどの大きな部分のメッキ皮膜の測定 
  • 電気メッキ層の測定
  • 液メッキ分析

現場測定などに最適

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500は、蛍光X線式測定器の中でも用途が非常に幅広いモデルです。ハンドヘルド型としてのXRF分析器で、飛行機の機体パーツ、パイプ、タービン翼など大型パーツの測定を生産現場で測定できます。

 

他社におけるポータブル型蛍光X線装置とは異なり、FISCHERSCOPE XAN 500は、精度よく膜厚測定ができます。 3点式測定により、簡単に安定して測定できます。高品質なシリコンドリフト検出器(SDD)により、亜鉛-ニッケルのような合金層を精度よく測定します。

XAN 500は、大型パーツの測定システムとしてだけでなく、専用のメジャリングボックスに簡単に装着することができ卓上型測定システムにもなります。 ナットやボルトのようなパーツも素早く簡単に測定することができます。

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