FISCHERSCOPE 蛍光X線式測定器のPCBシリーズ

PCBの測定向けに特別設計された蛍光X線式測定器

今日のプリント基板には、膨大な数のコーティングされた接点があります。はんだ付けの信頼性、耐腐食性、品質保持期限を保証するためには、さまざまな材料のそれぞれの厚さが正しくなければなりません。このような厳しい仕様を監視するために、エネルギー分散型蛍光X線分析が選ばれています。

ヘルムート・フィッシャーのPCBシリーズは、プリント回路基板に特化した測定ソリューションを提供しています。プロフェッショナルなPCB向けは、シンプル測定仕様だけでなく、複雑な測定タスクやナノメートル領域の膜厚測定においても信頼性の高い測定結果を迅速に提供します。

お客様のご要望に応じて、様々なモデルをご用意しております。ぜひご連絡ください。

FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB

FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB は、簡単な測定や抜き取り検査に理想的な蛍光X線分析装置です。堅牢なエントリーレベルの機器として、この蛍光X線測定器は検出器に比例計数管を搭載しており、短い測定時間を実現しています。

標準仕様のタングステンマイクロフォーカスチューブ
最小測定スポット Ø 約0.15 mm
カリウム（19）からウラン（92）までの元素を分析するための比例計数管
フィッシャーの特許技術：測定距離を簡単かつ迅速に補正するDCM方式
最大610 x 610 mm (24" x 24")までのプリント基板に対応した固定式ワイドサンプルステージ
最大試料高90mm
ドイツ放射線防護法に基づく型式認定を受けた完全保護装置

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCBには比例計数管が搭載されています。この蛍光X線分析装置には様々なコリメーターやフィルターが用意されているので、作業に応じて最適な測定条件を作り出すことができるのです。基本構成では、引き出し式のサンプルステージを備えており、PCBの位置決めを簡素化します。ご要望に応じて、自動測定のためのプログラマブルXYステージもご利用いただけます。

標準仕様のタングステンマイクロフォーカスチューブ
オプションの4種類の切替可能なコリメーターにより、最適な測定条件を設定可能
オプションの3種類の切替可能なフィルターにより、より複雑な作業にも対応するより良い励起条件を実現。
最小測定スポット Ø 約0.15 mm
カリウム（19）からウラン（92）までの元素を分析するための比例計数管
最大610 x 610 mm (24" x 24")までのプリント基板に対応した手動またはプログラム可能な測定ステージ
最大試料高さ：5mm
フィッシャーの特許技術：測定距離を簡単かつ迅速に補正するDCM方式
ドイツ放射線防護法に基づく完全防護機器として、個別検収

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB

XULM-PCB や XDLM-PCB とは対照的に、FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB は高感度シリコンドリフト検出器（SDD）、異なるコリメーターとフィルターを装備しています。これにより、ENIGおよびENEPIG法に基づいた試験にも最適な測定条件を実現します。基本構成では、PCBの位置決めを容易にするために、ポップアウトサンプルテーブルを備えています。ご要望に応じて、大型プリント基板用の拡張サンプルテーブルを装備することも可能です。

タングステンまたはクロームマイクロフォーカスチューブ
4種類の切替可能なコリメーターにより、最適な測定条件での測定が可能
3種類の切替可能なフィルターにより、複雑なタスクにも対応する最適な励起条件
最小測定スポット Ø 約0.15 mm
アルミニウム（13）からウラン（92）までの元素を分析できるシリコンドリフト検出器（SDD）
フィッシャーの特許技術：測定距離を簡単かつ迅速に補正するDCM方式
最大610 x 610 mm (24" x 24") のプリント基板に対応した手動式ステージ
最大試料高さ10mm
ドイツ放射線防護法に基づく完全防護機器として、個別検収

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB

高信頼性アプリケーションの中でも、プリント基板は品質を左右する重要な部品です。このような場合、ENIG および ENEPIG プロセスによるハイエンド皮膜構成が採用される。これらのプロセスでは、最も薄い層の厚みが40～100 nmであるため、比例計数管の精度ではもはやプロセスを監視することはできません。そこで、FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB が最適な選択肢となるのです。高感度シリコンドリフト検出器（SDD）とポリキャピラリー光学系の組み合わせにより、50 µm以下の構造体の精密測定が可能です。

特に、非常に小さな構造物を扱う場合、大量のサンプルをランダムに検査しようとすると、測定位置を一つ一つ選択するのに非常に時間がかかることがあります。しかし、フィッシャーが実装した画像認識ソフトを使えば、この手間を省くことができます。画像の一部分を保存するだけで、XDV-µ PCBは、対応する構造物を検索し、自動的に測定します。