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FISCHERSCOPE 蛍光X線式測定器のPCBシリーズ

FISCHERSCOPE 蛍光X線式測定器のPCBシリーズ

PCBの測定向けに特別設計された蛍光X線式測定器

現在のプリント回路基板は、非常に多くの接点を持つ皮膜があります。はんだ付けされたジョイント部、耐コロージョン皮膜、長期耐用性皮膜などにおいて、信頼性を保証するために、様々な材料のそれぞれの厚みは、正しく品質管理されなければなりません。これらの厳しい仕様を監視するための品質管理に、エネルギー分散型蛍光X線式測定器による測定法は一つの選択肢となります。

 

FISCHERのPCB製造向けに特別に開発された蛍光X線式測定器は、測定要求を満たすよう特別に設計されたモデル:測定を速く簡単に行えるだけでなく、大型のPCB(最大610 x 610 mmまで)にも対応できるように設計されています。

必要とする測定要件に応じて、様々な特別設計されたモデルがあります。

FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB

単純な測定値と抜き取り検査には、FISCHERSCOPE®X-RAY XULM®-PCBが理想的な蛍光X線式測定器です。このモデルには、X線検出器に比例計数管が搭載されています。この蛍光X線式測定器は、測定対象とする金属にもよるが、0.1 µm以上の膜厚測定に適しています。

 

  • マイクロフォーカスチューブ搭載
  • カリウムK (19)からウランU (92)までの元素分析ができる比例計数管
  • 固定の測定ステージ、610 x 610 mmまでの大型のPCBに対応
  • 最大サンプル高さ:90 mm
  • 最小測定スポット 約φ 0.2 mm
  • 完全保護された設計の測定装置 

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCBは、X線検出器に比例計数管を搭載。また、この蛍光X線式測定器は様々なコリメーターサイズと一次フィルターを備えているので、最適な励起条件を作ることができます。基本構成に、測定ステージにはフードを開くと自動的にローディングポジションに移動する機能があり、PCBの測定の位置決めを容易にします。プログラム可能なXYステージにより、自動化測定にも応用できます。

 

  • マイクロフォーカスチューブ搭載
  • 3種類の一次フィルター、複雑な測定タスクに最適な励起条件に
  • カリウムK (19)からウランU (92)までの元素分析ができる比例計数管
  • 大型のPCB(最大610 x 610 mmまで対応)に対応し、手動あるいはプログラム可能な測定ステージ
  • 最大サンプル高さ:5 mm
  • 4種類のコリメーター:最小測定スポット約Φ 0.2 mm
  • 完全保護された設計の測定装置  

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB

高い信頼性が求められるアプリケーション、プリント回路基板は品質は重要な要素です。そのような場合、ENIGやENEPIGのハイエンドなコーティングが採用されています。極薄膜のこれらプロセスは、厚さが40から100 nmであり、比例計数管の検出器では十分ではありません。そこで、FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µPCBのモデルでは、非常に高感度なシリコン・ドリフト検出器(SDD)とポリキャピラリーレンズの組み合わせにより、50 µm以下の微小構造上でも精度良く測定することができます。

 

特に非常に小さな構造に対処するとき、多数の測定サンプルを検査しなければならない場合には、各々の測定位置を個々に設定するのは大変時間を浪費することになります。しかし、FISCHERでは画像認証機能を評価ソフトウェアに実装しており、測定位置の画像を登録することで自動的に正確に測定位置を検索します。

  • マイクロフォーカスチューブ、WターゲットまたはMoターゲット
  • 4種類の一次フィルター、複雑な測定タスクに最適な励起条件に
  • アルミニウムAl (13)からウランU (92)までの元素分析ができるシリコン・ドリフト検出器
  • プログラム可能な測定ステージ、オプションでバキュームテーブル
  • ポリキャピラリーレンズによる微小な測定スポット (10 または 20 µm FWHM) 
  • 最大サンプルサイズ:最大610 x610 mmまでのサイズおよび10 mmまでの高さ
  • 完全保護された設計の測定装置 

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