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COULOSCOPE CMS2およびCOULOSCOPE CMS2 STEP

COULOSCOPE CMS2およびCOULOSCOPE CMS2 STEP

電解式による膜厚測定

ある特定の層の厚さが厚すぎる場合には、非破壊式の蛍光X線式測定器では、厚さによる限界があります。このような時、COULOSCOPE®CMS2では有効な状況となります。この測定器は、電解式により、ほとんどのあらゆる金属皮膜の厚みを測定することができます。これは、皮膜を剥離することによって行われます。多くの単層あるいは多層膜を、COULOSCOPE CMS2で正確に測定することができます。

 

非破壊式では厚みの範囲が限られて測定が困難な場合や蛍光X線式測定器よりも投資コストを抑えて測定したい場合で、破壊式測定器の使用が受け入れられるなら、この電解式のCOULOSCOPE CMS2は適しています。

STEPテスト: クーロメトリ法による膜厚測定および電位差の測定

COULOSCOPE CMS2と同様の膜厚測定に加えて、電位差を測定するのが、COULOSCOPE CMS2 STEPです。STEP試験により、複数の異なるニッケルの多重皮膜の電位差と膜厚を同時に測定することができます。

 

特長

  • 電解式(クーロメトリ法)により高精度に多層膜の厚み測定
  • DIN EN ISO 2177に準拠した皮膜剥離
  • カラーディスプレイ表示かつグラフィカルで分かりやすく直感的操作性
  • 簡単な選択性の剥離スピード(0.1–50 microns/min)および剥離エリア(0.6–3.2mm)
  • 様々な皮膜構成(鉄上の亜鉛、真鍮上のニッケルなど)の約100件ほどの定義済み測定アプリケーション
  • 測定セルの電圧カーブをグラフ表示
  • グラフおよび統計評価オプション
  • 様々なサンプルサイズに対応の部分的自動測定のサポートスタンド
  • 様々な要求に応じた包括的なアクセサリーが利用可能

COULOSCOPE CMS2 STEPに搭載の追加機能

  • 膜厚測定と電位差を同時に測定
  • 銀製のリファレンス電極のための自動測定シーケンス(AgClの皮膜を備えたものが必須)
  • 調整可能な剥離電流 
  • 電位差カーブの評価

アプリケーション

  • 電気メッキパーツや完成品パーツの受入検査など
  • あらゆる金属皮膜(0.05~50 µm)の膜厚測定(皮膜を剥離)
  • 金属または非金属基板上の単層または多層膜の測定
  • 多層膜(例:クロム/ニッケル/銅/鉄またはABSなど)の測定
  • 2層皮膜(例:銀または銅上のスズ/ニッケルのデュアル層測定)の測定
  • 鉄上の亜鉛などのような単層の測定

COULOSCOPE CMS2 STEPに追加のアプリケーション

  • STEPテスト試験:鉄、アルミニウム、またはABS基板上の異なるニッケルの多重皮膜の測定

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